[发明专利]测试模式设定电路及设定方法有效

专利信息
申请号: 201510029076.1 申请日: 2015-01-21
公开(公告)号: CN104614662B 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 黄智 申请(专利权)人: 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310012 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种测试模式设定电路及方法,应用于带有输出电压端口的集成电路,包括模式触发电路和脉宽检测电路,所述的模式触发电路的第一输入端与输出电压端口电连接,其第二输入端接收基准信号,模式触发电路的输出端与脉宽检测电路连接;进行测试模式设定时,在集成电路的输出电压端口施加模式触发信号,所述的模式触发信号与基准信号进行比较以产生脉冲信号,所述的脉宽检测电路接收脉冲信号,并检测脉冲信号的脉宽,输出脉宽检测信号,所述测试模式设定电路根据所述脉宽检测信号进入相应的测试模式。本发明能够满足端口数较少的芯片的测试模式的设定,无需增设专用端口,降低了芯片的封装尺寸和生产成本。
搜索关键词: 测试 模式 设定 电路 方法
【主权项】:
一种测试模式设定电路,应用于带有输出电压端口的集成电路,其特征在于:包括模式触发电路和脉宽检测电路,所述的模式触发电路的第一输入端与输出电压端口电连接,其第二输入端接收基准信号,模式触发电路的输出端与脉宽检测电路连接;进行测试模式设定时,在集成电路的输出电压端口施加模式触发信号,所述的模式触发信号与基准信号进行比较以产生脉冲信号,所述的脉宽检测电路接收脉冲信号,并检测脉冲信号的脉宽,输出脉宽检测信号,所述测试模式设定电路根据所述脉宽检测信号进入相应的测试模式。
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