[发明专利]测试模式设定电路及设定方法有效
| 申请号： | 201510029076.1 | 申请日： | 2015-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN104614662B | 公开（公告）日： | 2017-05-24 |
| 发明（设计）人： | 黄智 | 申请（专利权）人： | 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310012 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 模式 设定 电路 方法 | ||
1.一种测试模式设定电路，应用于带有输出电压端口的集成电路，其特征在于：包括模式触发电路和脉宽检测电路，所述的模式触发电路的第一输入端与输出电压端口电连接，其第二输入端接收基准信号，模式触发电路的输出端与脉宽检测电路连接；
进行测试模式设定时，在集成电路的输出电压端口施加模式触发信号，所述的模式触发信号与基准信号进行比较以产生脉冲信号，所述的脉宽检测电路接收脉冲信号，并检测脉冲信号的脉宽，输出脉宽检测信号，所述测试模式设定电路根据所述脉宽检测信号进入相应的测试模式。
2.根据权利要求1所述的测试模式设定电路，其特征在于：所述的测试模式设定电路还包括计数电路、烧写判断电路和熔丝烧写电路，设定计数脉宽范围和烧写脉宽范围，所述的计数电路和烧写判断电路分别接收脉宽检测电路输出的脉宽检测信号，所述脉冲信号的脉宽落入计数脉宽范围时，则由计数电路对测试模式进行计数，所述的脉冲信号的脉宽落入烧写脉宽范围时，则由烧写判断电路判断后进入修调测试模式，所述熔丝烧写电路根据此时计数电路的计数值选择相应位的熔丝进行烧断。
3.根据权利要求2所述的测试模式设定电路，其特征在于：所述的脉宽检测电路对脉冲信号的上升沿作延时处理后得到延时信号，将所述延时信号与所述脉冲信号相与，以产生所述的脉宽检测信号。
4.根据权利要求1-3的任意一项所述的测试模式设定电路，其特征在于：所述的集成电路包括功率级电路，所述的功率级电路包括主功率开关管，所述的模式触发信号为高低电压信号，模式触发信号的最低值大于功率级电路的正常输出电压。
5.一种测试模式设定方法，应用于带有输出电压端口的集成电路，其特征在于：进行测试模式设定时，在集成电路的输出电压端口施加模式触发信号，将所述的模式触发信号与基准信号进行比较以产生脉冲信号，并检测脉冲信号的脉宽，得到脉宽检测信号，根据表征脉冲信号脉宽范围的脉宽检测信号，进入相应的测试模式。
6.一种集成电路，包括输入端口、输出电压端口和接地端口，其特征在于：所述集成电路还包括权利要求1-4任意一种测试模式设定电路。
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