[发明专利]测试数据深度溯源的方法在审
| 申请号： | 201510012571.1 | 申请日： | 2015-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN104597392A | 公开（公告）日： | 2015-05-06 |
| 发明（设计）人： | 苏涛;张志勇;王华;凌俭波;王锦;郝丹丹 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试数据深度溯源的方法，包括以下步骤：实时的从服务器上获取与被测产品相关的信息；通过正则表达式读取从所述服务器上获取的所述信息，并将所述信息里的关键信息分类存储，并绘制良率图；根据所述良率图获取所述被测产品的良率、失效分布状况、所述被测产品上失效芯片的具体失效信息以及所述被测产品上测试通过测试的芯片的具体信息。通过正则表达式对所述被测产品相关的关键信息进行分类存储，并绘制良率图，工程师可以根据良率图很直观的看出所述被测产品的良率及失效分布状况；可以获取所述被测产品上失效芯片的具体失效信息，提高失效分析的效率；还可以获取通过测试的芯片的具体测试信息，提高正常的数据分析效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试数据 深度 溯源 方法 | ||
【主权项】：
一种测试数据深度溯源的方法，其特征在于，包括以下步骤：实时的从服务器上获取与被测产品相关的信息；通过正则表达式读取从所述服务器上获取的所述信息，并将所述信息里的关键信息分类存储，并绘制良率图；根据所述良率图获取所述被测产品的良率、失效分布状况、所述被测产品上失效芯片的具体失效信息以及所述被测产品上通过测试的芯片的具体信息。
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