[发明专利]利用均匀线扫描的填充材料表面拓扑确定在审
| 申请号： | 201480082288.X | 申请日： | 2014-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN107078400A | 公开（公告）日： | 2017-08-18 |
| 发明（设计）人： | 斯特芬·瓦尔德;罗兰·韦勒;卡尔·格里斯鲍姆;约瑟夫·费伦巴赫 | 申请（专利权）人： | VEGA格里沙贝两合公司 |
| 主分类号： | H01Q21/06 | 分类号： | H01Q21/06;H01Q1/22;G01F23/284 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司11290 | 代理人： | 曹正建,陈桂香 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于确定填充材料表面(101)的拓扑的填充物位测量装置(100)包括天线设备(102)和可旋转支座，天线设备包括辐射元件(202)的阵列，可旋转支座用于使天线装置围绕平行于阵列的轴线(131)旋转。以这种方式，可相对于填充材料表面电子地且机械地调节天线设备的多个发射角，而不会出现局部过扫描。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 均匀 扫描 填充 材料 表面 拓扑 确定 | ||
【主权项】：
一种用于确定填充材料表面(101)的拓扑的填充物位测量装置(100)，其包括：天线设备(102)，其包括被构造成发射并/或接收电磁信号的辐射元件(202)的阵列；第一可旋转支座，其被构造成使所述天线设备(102)围绕非垂直轴线(121)旋转；其中，所述填充物位测量装置被构造成电子地且机械地设定所述天线设备(102)的相对于所述填充材料表面(101)的多个发射角和/或接收角。
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