[发明专利]利用均匀线扫描的填充材料表面拓扑确定

权利要求书

1.一种用于确定填充材料表面(101)的拓扑的填充物位测量装置(100)，其包括：

天线设备(102)，其包括被构造成发射并/或接收电磁信号的辐射元件(202)的阵列；

第一可旋转支座，其被构造成使所述天线设备(102)围绕非垂直轴线(121)旋转；

其中，所述填充物位测量装置被构造成电子地且机械地设定所述天线设备(102)的相对于所述填充材料表面(101)的多个发射角和/或接收角。

2.根据权利要求1所述的填充物位测量装置(100)，

其中，所述非垂直轴线(121)平行于所述阵列。

3.根据权利要求1或2所述的填充物位测量装置(100)，

其中，所述阵列是沿纵向方向(203)延伸的一维阵列，并且

其中，所述轴线(121)平行于所述纵向方向。

4.根据前述权利要求中任一项所述的填充物位测量装置(100)，

其中，所述填充物位测量装置被构造成使用数字波束成形处理来进行所述发射角和/或接收角的电子设定。

5.根据前述权利要求中任一项所述的填充物位测量装置(100)，

其中，所述填充物位测量装置被构造成使用模拟移相器和/或模拟开关来进行多个发射角和/或接收角的电子设定。

6.根据前述权利要求中任一项所述的填充物位测量装置(100)，其还包括：

附加可旋转支座，其被构造成使所述天线设备(102)围绕不平行于所述阵列的轴线(103)旋转。

7.根据权利要求6所述的填充物位测量装置(100)，

其中，所述附加轴线(103)是垂直轴线。

8.根据前述权利要求中任一项所述的填充物位测量装置(100)，

其中，所述天线设备(102)沿其纵向延伸相对于水平方向(122)倾斜，并因此所述天线设备(102)的纵向方向(203)与所述水平方向(122)之间的角度(107)不等于0°。

9.根据前述权利要求中任一项所述的填充物位测量装置(100)，其还包括：

电源和通信接口，其被构造成将所述填充物位测量装置连接至双线线路，通过所述电源和通信接口向所述填充物位测量装置提供测量操作所需的电力，并且通过所述电源和通信接口将测量的数据发送至远程控制单元。

10.一种用于确定填充材料表面的拓扑的方法，所述方法包括：

步骤(601)：设置填充物位测量装置；

步骤(602)：电子地且机械地设定所述填充物位测量装置的天线设备的第一发射角，所述天线设备包括被构造成发射并/或接收电磁信号的辐射元件(202)的阵列；

步骤(603)：在所述第一发射角处检测回波曲线；

步骤(604)：使所述天线设备围绕非垂直轴线(121)旋转，所述非垂直轴线例如平行于所述阵列；以及

步骤(605)：在第二发射角处检测另一回波曲线。

11.根据权利要求1至9中任一项所述的填充物位测量装置(100)的用于确定移动液体的黏度的用途。

12.根据权利要求1至9中任一项所述的填充物位测量装置(100)的用于确定介质的质量或体积的用途。