[发明专利]超声波检查装置以及超声波检查方法

摘要

本发明的目的在于提供一种能够对金属材料中存在的微小的缺陷或者夹杂物高精度地进行检测的超声波检查装置以及检查方法。为了达成上述目的，本发明的超声波检查装置的特征在于，具有：偏振控制探头，其产生具有第一振动方向的横波超声波与具有第二振动方向的横波超声波；波形生成部，其对具有第一振动方向的横波超声波与具有第二振动方向的横波超声波的各个的相位差进行控制；波形解析部，其根据偏振控制探头的接收波形，对具有第一振动方向的横波超声波与具有第二振动方向的横波超声波进行运算来计算合成波形；以及显示器，其显示通过波形解析部获得的合成波形。

主权项

1.一种超声波检查装置，其特征在于，具有：偏振控制探头，其产生具有第一振动方向的横波超声波与具有第二振动方向的横波超声波；波形生成部，其对具有所述第一振动方向的横波超声波与具有所述第二振动方向的横波超声波的各个相位差进行控制，使得具有所述第一振动方向的横波超声波与具有所述第二振动方向的横波超声波会在下式的条件成立的位置进行干涉从而增强信号，其中，V₀是具有声学各向异性的被检查体的两个主轴的各自的朝向上的横波超声波的平均音速，ΔV是两个主轴的朝向的横波超声波的音速差，f是横波超声波的频率，z是从上述被检查体的检查面至上述检查体内的产生特定回波的反射体的距离的2倍，φ是初始相位，n是干涉次数，具有声学各向异性的被检查体的两个主轴为该被检查体内的横波超声波传播速度最快以及最慢的轴向；波形解析部，其根据所述偏振控制探头的接收波形，由具有所述第一振动方向的横波超声波与具有所述第二振动方向的横波超声波计算干涉波形；以及显示器，其显示通过所述波形解析部得到的干涉波形。