[发明专利]有源微波设备和探测方法有效

专利信息
申请号: 201480068243.7 申请日: 2014-11-17
公开(公告)号: CN105829920B 公开(公告)日: 2017-11-28
发明(设计)人: A.库兹涅佐夫;V.埃弗亚诺夫;I.戈尔什科夫 申请(专利权)人: 阿普斯泰克系统美国有限责任公司
主分类号: G01V8/10 分类号: G01V8/10;G01S13/02;G01S13/88
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 励晓林
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本文公开了一种用于探测隐蔽在衣服下面或者行李中的潜在地危险的和/或者爆炸性材料的方法和系统。通过发射、反射以及接收微波辐射,能够构建目标区域的3D图像。该图像将示出移动的人和潜在地隐藏在其身体上的任何电介质对象的轮廓。通过测量从电介质对象反射的微波的相位和幅值,能够确定微波通过隐藏对象的光学路径,因此,使得可以创建目标区域的3D微波图像。能够同时使用几个发射机和接收机,并且还能够使视频成像叠加在微波图像上,用以改善探测准确性。本发明在整个国家,尤其在公共交通和大型公共事件的领域中,具有保安和安全应用。
搜索关键词: 有源 微波 设备 探测 方法
【主权项】:
一种用于揭露可疑空间中的隐藏电介质对象的方法,包括:从微波MW源朝向可疑人发送MW信号,所述信号部分地在空气与中间空间的外层之间的第一边界上反射,所述信号的剩余部分几乎完全在所述中间空间与人体之间的第二边界上反射;在MW接收机接收从所述第一边界和所述第二边界反射回的MW信号的第一和第二响应,第一和第二响应信号是可疑人的第一和第二3D MW图像;确定至少两组两个点之间至少两个光学路径P1和P2,其中P1=(A2‑A1)并且P2=(B2‑B1),其中A1是第一MW波束从所述第一边界反射的点,而A2是同一第一MW波束从所述第二边界反射的点,其中B1是第二MW波束从所述第一边界反射的点,而B2是同一第二MW波束从所述第二边界反射的点,其中所述光学路径是微波辐射在所述中间空间的介质中的路径;如果P1与P2之间的差由于在B2与B1之间的中间空间中升高的介电常数而大于阈值,则确定在所述第一边界与所述第一边界之间存在隐藏电介质对象。
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