[发明专利]在工具中心点处使用校准激光头校准坐标测量机有效
| 申请号： | 201480064923.1 | 申请日： | 2014-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN105793666B | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | C·艾斯利;帕斯卡尔·乔迪尔 | 申请（专利权）人： | 赫克斯冈技术中心 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04;B23Q17/22 |
| 代理公司： | 11127 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王小东 |
| 地址： | 瑞士赫*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 用于坐标测量机(1)的校准方法，所述坐标测量机(1)包括用于使工具载体(15)相对于基座(11)移动以接近测量点的驱动机构，并包括如此实施并附接至所述工具载体(15)的校准激光头(20)，使得能由所述校准激光头(20，21)发射的激光束(25)能围绕至少两个大致垂直的轴线(X，Y，Z)转动，并且距离变化能借助所述校准激光头(20)以干涉方式测量。一组后向反射器(16a‑16d)布置在相对于所述基座(11)的固定位置中和/或布置到所述基座(11)上。所述方法包括：朝向一组后向反射器(16a‑16d)中的第一后向反射器发射以及引导所述激光束(25)，由此测量路径(26)由所述激光束(25)的取向限定；沿着所述测量路径(26)移动所述校准激光头(20)，使得所述激光束(25)根据所述测量路径(26)朝向所述第一后向反射器(16a)保持引导，并且在所述校准激光头(20)处连续地接收反射激光束；在沿着所述测量路径(26)的多个测量位置处测量与所述第一后向反射器(16a)的距离变化；以及针对所述多个测量位置中的每个测量位置采集机器位置，所述机器位置涉及所述工具载体(15)相对于所述基座(11)的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 工具 中心点 使用 校准 激光头 坐标 测量 | ||
【主权项】：
1.一种用于坐标测量机(1，2，3)的校准方法，所述坐标测量机(1，2，3)包括:/n·驱动机构，该驱动机构用于使工具载体(15，55)相对于基座(11，31)移动以接近测量点，以及/n·校准激光头(20，21)，该校准激光头附接至所述工具载体(15，55)，使得/n-能由所述校准激光头(20，21)发射的激光束(25)能围绕至少两个大致垂直的轴线(A，B，C，X，Y，Z)转动，并且/n-距离变化能借助所述校准激光头(20，21)以干涉方式测量，/n其中，一组后向反射器(16a-16e，17)布置在相对于所述基座(11，31)的固定位置，并且所述方法包括：/n·朝向所述一组后向反射器(16a-16e，17)中的第一后向反射器发射以及引导所述激光束(25)，由此测量路径(26)由所述激光束(25)的取向限定；/n·沿着所述测量路径(26)移动所述校准激光头(20，21)，使得所述激光束(25)根据所述测量路径(26)保持被朝向所述第一后向反射器(16a)引导，并且在所述校准激光头(20，21)处连续地接收反射激光束；/n·在沿着所述测量路径(26)的多个测量位置处测量与所述第一后向反射器(16a)的距离变化；/n·针对所述多个测量位置中的每个测量位置采集机器位置，所述机器位置涉及所述工具载体(15，55)相对于所述基座(11，31)的位置；以及/n·根据测量到的距离变化以及针对所述多个测量位置中的每个测量位置的所述机器位置而导出所述坐标测量机(1，2，3)的校准数据。/n
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