[发明专利]在工具中心点处使用校准激光头校准坐标测量机有效

专利信息
申请号: 201480064923.1 申请日: 2014-11-28
公开(公告)号: CN105793666B 公开(公告)日: 2019-12-31
发明(设计)人: C·艾斯利;帕斯卡尔·乔迪尔 申请(专利权)人: 赫克斯冈技术中心
主分类号: G01B21/04 分类号: G01B21/04;B23Q17/22
代理公司: 11127 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 王小东
地址: 瑞士赫*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 工具 中心点 使用 校准 激光头 坐标 测量
【权利要求书】:

1.一种用于坐标测量机(1,2,3)的校准方法,所述坐标测量机(1,2,3)包括:

·驱动机构,该驱动机构用于使工具载体(15,55)相对于基座(11,31)移动以接近测量点,以及

·校准激光头(20,21),该校准激光头附接至所述工具载体(15,55),使得

-能由所述校准激光头(20,21)发射的激光束(25)能围绕至少两个大致垂直的轴线(A,B,C,X,Y,Z)转动,并且

-距离变化能借助所述校准激光头(20,21)以干涉方式测量,

其中,一组后向反射器(16a-16e,17)布置在相对于所述基座(11,31)的固定位置,并且所述方法包括:

·朝向所述一组后向反射器(16a-16e,17)中的第一后向反射器发射以及引导所述激光束(25),由此测量路径(26)由所述激光束(25)的取向限定;

·沿着所述测量路径(26)移动所述校准激光头(20,21),使得所述激光束(25)根据所述测量路径(26)保持被朝向所述第一后向反射器(16a)引导,并且在所述校准激光头(20,21)处连续地接收反射激光束;

·在沿着所述测量路径(26)的多个测量位置处测量与所述第一后向反射器(16a)的距离变化;

·针对所述多个测量位置中的每个测量位置采集机器位置,所述机器位置涉及所述工具载体(15,55)相对于所述基座(11,31)的位置;以及

·根据测量到的距离变化以及针对所述多个测量位置中的每个测量位置的所述机器位置而导出所述坐标测量机(1,2,3)的校准数据。

2.根据权利要求1所述的校准方法,

其特征在于,

基于针对所述多个测量位置中的每个测量位置测量到的距离变化和所述机器位置来计算补偿图,以补偿针对所述测量点所确定的位置信息。

3.根据权利要求1或2所述的校准方法,

其特征在于,

执行自动激光对准功能,其中确定反射激光束在所述校准激光头(20,21)这一侧的撞击位置,并且基于所述撞击位置来调节所述校准激光头(20,21)的位置和/或取向。

4.根据权利要求1所述的校准方法,

其特征在于,

·由所述激光束(25)的方向限定的所述测量路径(26)提供关于两个所述轴线(A,B,C,X,Y,Z)中的至少一个轴线的限定偏移(O);和/或

·关于三个旋转自由度调整激光束(25)的方向。

5.根据权利要求1所述的校准方法,

其特征在于,

所述校准方法

·以动态的方式执行,其中测量与所述第一后向反射器(16a)的距离变化以及针对所述多个测量位置中的每个测量位置采集所述机器位置的步骤在移动所述校准激光头(20,21)的同时执行;或者

·以静态的方式执行,其中测量与所述第一后向反射器(16a)的距离变化以及针对所述多个测量位置中的每个测量位置采集所述机器位置的步骤在所述校准激光头(20,21)的限定的静止位置处执行;或者

·以混合的方式执行,其中所述校准方法针对所述多个测量位置的第一部分以动态的方式执行,并且针对所述多个测量位置的第二部分以静态的方式执行。

6.根据权利要求1所述的校准方法,

其特征在于,

·预先知晓所述一组后向反射器(16a-16e,17)的至少一个反射器的位置;和/或

·自动执行所述校准方法。

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