[发明专利]用于探测光子的探测设备以及其方法有效
申请号: | 201480064601.7 | 申请日: | 2014-11-20 |
公开(公告)号: | CN105793734B | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | H·德尔;C·赫尔曼;F·贝格纳;R·斯特德曼布克 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24;G01T1/17 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及一种用于探测由辐射源(2)发射的光子的探测设备(6)。所述探测设备(6)被配置为在第一时间段期间探测所述光子。所述探测设备(6)包括:具有中间直接转换材料的传感器(10),所述中间直接转换材料用于将光子转换为电子和空穴;整形元件(20);以及补偿单元(450、INT、950)。所述补偿单元(450、INT、950)适于基于电脉冲并且基于所述传感器(10)的光电导增益来提供补偿信号。本发明的核心是提供电路以通过如下操作来减小由于关于谱计算机断层摄影中的直接转换探测器的固有误差的伪影:确定补偿电流;探测或者监测基线恢复器反馈信号;或者忽略高于基线水平的信号。 | ||
搜索关键词: | 用于 探测 光子 设备 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于探测由辐射源(2)发射的光子的探测设备(6),其中,所述探测设备(6)被配置为在第一时间段期间探测所述光子,所述探测设备(6)包括:‑传感器(10),其包括阳极、阴极以及中间直接转换材料,所述中间直接转换材料用于将光子转换为电子和空穴,‑整形元件(20),其适于将由光子生成的电荷脉冲转换为电脉冲,以及‑补偿单元(450),其被耦合在所述整形元件(20)的输出部与所述整形元件(20)的输入部之间,其中,所述补偿单元(450)包括光电导增益提供单元,其中,所述光电导增益提供单元被配置为提供针对所述传感器(10)的光电导增益,其中,所述补偿单元(450)还包括第二时间段电流提供单元,其中,所述第二时间段电流提供单元被配置为在至少第二时间段期间提供来自所述传感器(10)的电流,其中,所述第二时间段比所述第一时间段短,其中,所述补偿单元(450)适于将补偿信号提供到所述整形元件(20),其中,所述补偿信号基于来自所述传感器(10)的所述电流并且基于针对所述传感器(10)的所述光电导增益。
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