[发明专利]间歇性质谱仪入口装置有效
申请号: | 201480043606.1 | 申请日: | 2014-07-31 |
公开(公告)号: | CN105684123B | 公开(公告)日: | 2018-11-30 |
发明(设计)人: | V·贝尔库特 | 申请(专利权)人: | 史密斯探测公司 |
主分类号: | H01J49/26 | 分类号: | H01J49/26;H01J37/252;H01J49/04;H01J49/06;H01J49/24 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 李翔;黄志兴 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 描述了一种间歇性样品入口装置以及用于使用该间歇性样品入口装置的方法,包括具有进入孔的孔板以及具有分离器孔的旋转分离器,其中,旋转分离器设置在孔板和真空腔室壁之间。旋转分离器旋转以便分离器孔间歇地与进入孔对齐并且允许离子样品通过到质量分析器。 | ||
搜索关键词: | 间歇性 质谱仪 入口 装置 | ||
【主权项】:
1.用于在大气环境下产生离子的质谱样品入口装置,包括:样品入口,该样品入口设置为接收来自样品电离源的离子样品,其中,所述电离源在大气压力下从样品产生离子;所述样品入口包括旋转分离器,以及导管,所述导管用于将来自所述电离源的离子样品提供至所述旋转分离器,其中,所述旋转分离器设置在所述导管和减压的区域之间,其中,所述旋转分离器包括分离器孔,该分离器孔设置为当所述旋转分离器旋转时间歇地与所述导管对齐。
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