[发明专利]间歇性质谱仪入口装置有效

专利信息
申请号: 201480043606.1 申请日: 2014-07-31
公开(公告)号: CN105684123B 公开(公告)日: 2018-11-30
发明(设计)人: V·贝尔库特 申请(专利权)人: 史密斯探测公司
主分类号: H01J49/26 分类号: H01J49/26;H01J37/252;H01J49/04;H01J49/06;H01J49/24
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 李翔;黄志兴
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 间歇性 质谱仪 入口 装置
【说明书】:

描述了一种间歇性样品入口装置以及用于使用该间歇性样品入口装置的方法,包括具有进入孔的孔板以及具有分离器孔的旋转分离器,其中,旋转分离器设置在孔板和真空腔室壁之间。旋转分离器旋转以便分离器孔间歇地与进入孔对齐并且允许离子样品通过到质量分析器。

背景技术

质谱仪(MS)在真空中运转并且关于质荷比分离离子。在一些使用质谱仪的实施方式中,一种样品(可以为固体,液体或者气体)被电离。离子在质量分析器中根据质荷比分离并且通过能够检测带电粒子的装置检测。然后来自检测器的信号根据质荷比(mass-to-charge ratio)被处理成离子相对丰度的光谱。原子或者分子通过将待识别的质量与已知的质量关联或者通过特有的裂解规律而识别。

发明内容

描述了一种间歇性样品入口装置以及用于使用该间歇性样品入口装置的方法,包括具有进入孔的导管(例如孔板)以及具有分离器孔的旋转分离器,其中,旋转分离器设置在导管和真空腔室壁之间。旋转分离器旋转以便分离器孔间歇地与进入孔对齐并且允许离子样品通过而到达质量分析器系统和检测器。此外,间歇性入口检测装置包括离子漏斗、第二或者静止分离器、离子引导器、质量分析器、检测器、至少一个真空泵(例如低真空泵、高真空泵等等)。在一种实施方式中,使用本发明的技术利用间歇性入口装置的过程包括从离子源中产生离子样品;在具有进入孔的导管和/或孔板处接收离子样品;旋转设置在导管和/或孔板与真空腔室壁之间的分离器盘体,其中,当旋转分离器旋转时,旋转分离器中的分离器孔间歇地与进入孔对齐;离子样品通过进入孔和分离器孔转移。

提供该摘要以便以简要的形式介绍所选的发明设想,本发明的发明设想将在详细的说明书中进一步描述。该摘要既不是想要确定所要求的主题的关键特征或者必要特征,也不是想要用于帮助确定所要求的主题的范围。

附图说明

详细的说明书是参考附图描述的。在说明书以及附图的不同实施例中使用的相同的参考标记可以表示相似或者相同的项目。

图1是根据本发明的实施方式的包括具有分离器孔的旋转分离器的间歇性样品入口装置的剖视图。

图2是根据本发明的实施方式的具有分离器孔的旋转分离器的等轴测视图。

图3是根据本发明的实施方式的包括具有分离器孔的旋转分离器和离子漏斗的间歇性入口检测装置的剖视图。

图4是根据本发明的实施方式的包括具有分离器孔的旋转分离器和静止分离器的间歇性入口检测装置的剖视图。

图5是根据本发明的实施方式的包括具有分离器孔的旋转分离器和毛细管的间歇性入口检测装置的剖视图。

图6是根据本发明的实施方式的包括样品电离源、样品入口装置、质量分析器系统和检测器的间歇性入口检测装置的框图。

图7是使用图1至图6中所显示的间歇性样品入口装置和间歇性入口检测装置的示例性过程的流程图。

具体实施方式

质谱仪(MS)在真空中运转并且关于质荷比分离离子。在一些使用质谱仪的实施方式中,一种样品(可以为固体,液体或者气体)被电离并分析。离子在质量分析器中根据质荷比分离并且通过能够检测带电粒子的检测器检测。然后来自检测器的信号根据质荷比被处理成离子相对丰度的光谱。原子或者分子通过将待识别的物质与已知的物质关联或者通过特有的裂解规律而识别。

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