[发明专利]间歇性质谱仪入口装置有效

专利信息
申请号: 201480043606.1 申请日: 2014-07-31
公开(公告)号: CN105684123B 公开(公告)日: 2018-11-30
发明(设计)人: V·贝尔库特 申请(专利权)人: 史密斯探测公司
主分类号: H01J49/26 分类号: H01J49/26;H01J37/252;H01J49/04;H01J49/06;H01J49/24
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 李翔;黄志兴
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 间歇性 质谱仪 入口 装置
【权利要求书】:

1.用于在大气环境下产生离子的质谱样品入口装置,包括:

样品入口,该样品入口设置为接收来自样品电离源的离子样品,其中,所述电离源在大气压力下从样品产生离子;

所述样品入口包括旋转分离器,以及

导管,所述导管用于将来自所述电离源的离子样品提供至所述旋转分离器,其中,所述旋转分离器设置在所述导管和减压的区域之间,其中,

所述旋转分离器包括分离器孔,该分离器孔设置为当所述旋转分离器旋转时间歇地与所述导管对齐。

2.根据权利要求1所述的质谱样品入口装置,其中,所述导管包括孔板,所述孔板包括进入孔。

3.根据权利要求1所述的质谱样品入口装置,其中,所述导管包括毛细管。

4.根据权利要求3所述的质谱样品入口装置,其中,所述分离器孔大于所述毛细管的出口直径。

5.根据权利要求3所述的质谱样品入口装置,其中,所述毛细管是被加热的。

6.根据权利要求1所述的质谱样品入口装置,其中,离子转移进入离子阱装置。

7.根据权利要求6所述的质谱样品入口装置,其中,所述离子阱装置为离子漏斗。

8.根据权利要求6所述的质谱样品入口装置,其中,所述离子阱装置的运行与旋转分离器孔对齐进入管道的时刻同步。

9.根据权利要求1所述的质谱样品入口装置,其中,流过所述分离器孔之后的离子样品流进一步通过静止分离器限制。

10.根据权利要求9所述的质谱样品入口装置,其中,在所述静止分离器之后,离子转移进入所述离子阱装置。

11.根据权利要求10所述的质谱样品入口装置,其中,所述离子阱装置的运行与旋转分离器孔对齐进入管道的时刻同步。

12.根据权利要求1所述的质谱样品入口装置,其中,所述旋转分离器偏离于所述导管。

13.根据权利要求1所述的质谱样品入口装置,其中,所述旋转分离器具有多个分离器孔。

14.根据权利要求2所述的质谱样品入口装置,其中,所述分离器孔大于所述进入孔。

15.根据权利要求1所述的质谱样品入口装置,其中,所述分离器孔是圆形的。

16.根据权利要求1所述的质谱样品入口装置,其中,所述分离器孔偏离于所述旋转分离器。

17.一种质谱系统,包括:

样品电离源;

样品入口,该样品入口设置为接收来自所述样品电离源的离子样品,其中,所述电离源在大气压力下从样品产生离子;

所述样品入口包括旋转分离器,以及,

导管,所述导管用于将来自所述电离源的离子样品提供至所述旋转分离器,其中,所述旋转分离器设置在所述导管和减压的区域之间,其中,

所述旋转分离器包括分离器孔,该分离器孔设置为当所述旋转分离器旋转时间歇地与所述导管对齐;

质量分析器系统,该质量分析器系统包括真空腔室;以及

检测器。

18.根据权利要求17所述的质谱系统,其中,所述分离器孔偏离于所述旋转分离器。

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