[发明专利]OLED堆叠膜的质量评估的系统、设备和方法有效
| 申请号: | 201480009276.4 | 申请日: | 2014-02-13 |
| 公开(公告)号: | CN105900418B | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
| 发明(设计)人: | 克里斯托弗·科卡 | 申请(专利权)人: | 卡帝瓦公司 |
| 主分类号: | H04N9/64 | 分类号: | H04N9/64;G02B5/20;G06T1/20 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 董均华,邓雪萌 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本公开提供用于评估有机发光二极管(“OLED”)器件的沉积膜层质量的技术。图像被捕捉并滤波以识别要分析的沉积层。表示该层的图像数据可以被可选地转换为亮度(灰度)数据。然后梯度函数被应用以强调沉积层中的不连续性。然后不连续性被与一个或多个阈值比较并用于确定沉积层的质量,然后可选的补救措施被应用。本公开技术可以在现场被应用,以在随后的制造步骤被实施之前快速地识别诸如分层的潜在缺陷。在可选的实施例中,依据缺陷是否被确定存在,可以采用补救措施。 | ||
| 搜索关键词: | oled 堆叠 质量 评估 | ||
【主权项】:
一种非暂时性计算机可读介质,其上存储有计算机可读指令,当所述指令由处理器执行时执行如下步骤:接收表示用于像素井的膜的沉积层的捕捉图像的数据;滤波接收到的数据以获得表示所述像素井内所述沉积层的滤波的数据;将梯度函数应用到所述接收到的数据或者所述滤波的数据中至少一个以获得表示所述沉积层内梯度的处理的数据;和依据所述处理的数据生成输出,所述输出指示沉积层是否满足表示最小质量准则的阈值。
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