[发明专利]OLED堆叠膜的质量评估的系统、设备和方法

权利要求书

1.一种非暂时性计算机可读介质，其上存储有计算机可读指令，当所述指令由处理器执行时执行如下步骤：

接收表示用于像素井的膜的沉积层的捕捉图像的数据；

滤波接收到的数据以获得表示所述像素井内所述沉积层的滤波的数据；

将梯度函数应用到所述接收到的数据或者所述滤波的数据中至少一个以获得表示所述沉积层内梯度的处理的数据;和

依据所述处理的数据生成输出，所述输出指示沉积层是否满足表示最小质量准则的阈值。

2.根据权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质，其中，当被执行时所述指令进一步处理所述滤波的数据来强调所选择的图像特征，以产生强调数据，并且将所述梯度函数应用到所述强调数据以获得所述处理的数据。

3.根据权利要求2所述的非暂时性计算机可读介质，其中，当被执行时所述指令进一步通过将图像数据转换为灰度数据来产生所述强调数据。

4.根据权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质，其中，所述梯度函数包括从索贝尔滤波器、蒲瑞维特滤波器、和基尔希滤波器所组成的组中所选择的滤波器。

5.根据权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质，其中，所述梯度函数包括高通滤波 器。

6.根据权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质，其中，当被执行时所述指令进一步将由所述处理的数据表示的单独梯度值的绝对值加在一起，以得到梯度值的总和，其中，所述阈值是数值，并且其中，当被执行时所述指令进一步依据所述总和是否超过所述数值来生成所述输出。

7.根据权利要求6所述的非暂时性计算机可读介质，其中，当被执行时所述指令进一步关于由所述处理的数据表示的所述梯度值来确定统计测量，并且其中，当被执行时所述指令进一步依据所述统计测量是否超过第二阈值来生成所述输出。

8.根据权利要求6所述的非暂时性计算机可读介质，其中，所述梯度值的每个对应于所述滤波的数据的邻近像素之间的强度差。

9.根据权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质，其中，当被执行时所述指令进一步关于所述处理的数据来确定统计测量，并且其中，当被执行时所述指令进一步依据所述统计测量是否超过所述阈值来生成所述输出。

10.根据权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质，其中，所述梯度函数包括矩阵算 子，并且其中，当被执行时所述指令进一步通过将所述矩阵算子的值与由所述滤波的数据表示的图像数据值卷积来将所述梯度函数应用到所述滤波的数据。

11.根据权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质，其中，当被执行时所述指令进一步控制照相机以生成所述捕捉图像。

12.根据权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质，其中，当被执行时所述指令进一步控制适于传输喷墨打印头的运动系统，和从由所述运动系统携带的照相机接收所述捕捉 图像。

13.一种面板检查系统，包括：

照相机，所述照相机捕捉包含衬底上像素井内沉积的层的图像数据；

至少一个处理器;和

计算机可读介质，所述计算机可读介质可操作地耦合到所述处理器，所述计算机可读介质具有存储在其上的计算机可读指令，当被所述至少一个处理器执行时所述指令使所述装置：

从所述照相机接收所述图像数据，

滤波所述图像数据以获得表示所述像素井内沉积层的滤波的数据，

将梯度函数应用到接收到的数据或者所述滤波的数据中的至少一个以获得处理的数据，和

依据所述处理的数据生成输出，所述输出指示沉积层是否满足表示最小质量准则的至少一个阈值。

14.根据权利要求13所述的面板检查系统，其中，当被执行时所述指令进一步使所述装置处理所述滤波的数据来强调所选择的图像特征，以产生强调数据，并且将所述梯度函数应用到所述强调数据以获得所述处理的数据。

15.根据权利要求14所述的面板检查系统，其中，当被执行时所述指令进一步使所述装置通过将图像数据转换为灰度数据来产生所述强调数据。

16.根据权利要求13所述的面板检查系统，其中，所述梯度函数包括从索贝尔滤波器、蒲瑞维特滤波器、和基尔希滤波器所组成的组中所选择的滤波器。