[实用新型]一种多波长相移显微成像系统有效
申请号: | 201420779546.7 | 申请日: | 2014-12-10 |
公开(公告)号: | CN204388780U | 公开(公告)日: | 2015-06-10 |
发明(设计)人: | 赵晖;王翰林;刘满林;刘俊;张浠;安昕 | 申请(专利权)人: | 佛山市南海区欧谱曼迪科技有限责任公司 |
主分类号: | G01B9/021 | 分类号: | G01B9/021;G01N21/01;G01N21/88;G06T7/00 |
代理公司: | 深圳市盈方知识产权事务所(普通合伙) 44303 | 代理人: | 周才淇;朱晓江 |
地址: | 528251 广东省佛山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种多波长相移显微成像系统,包括米劳干涉装置,所述米劳干涉装置进一步包括至上而下依次设置的第一显微物镜、第二显微镜、反射镜和平面分光镜,所述准直透镜将白色光源的光扩束,送入分光平板中,所述分光平板一侧设置有米劳干涉装置,另一侧设置有成像透镜,所述成像透镜的后端设置图像接收装置,所述图像接收装置连接图像处理终端,所述图像处理终端连接压电陶瓷控制器,所述压电陶瓷控制器连接压电陶瓷,所述压电陶瓷设置在米劳干涉装置上,所述图像处理终端通过压电陶瓷控制器控制设置在米劳干涉装置上的压电陶瓷发生位移运动,实现获取多波长的干涉条纹信息,所述样品台设置在米劳干涉装置下方。采用本实用新型能够在紧凑的光路结构中,快速获取并分析物体的表面形貌和结构,获得物体更大范围,更高精度的结构形态。 | ||
搜索关键词: | 一种 波长 相移 显微 成像 系统 | ||
【主权项】:
一种多波长相移显微成像系统,其特征在于,包括米劳干涉装置、白光光源、准直透镜、分光平板、成像透镜、图像接收装置、图像处理终端、压电陶瓷、压电陶瓷控制器和样品台,所述米劳干涉装置包括至上而下依次设置的第一显微物镜、第二显微镜、反射镜和平面分光镜,所述准直透镜将白色光源的光扩束,送入分光平板中,所述分光平板一侧设置有米劳干涉装置,另一侧设置有成像透镜,所述成像透镜的后端设置图像接收装置,所述图像接收装置连接图像处理终端,所述图像处理终端连接压电陶瓷控制器,所述压电陶瓷控制器连接压电陶瓷,所述压电陶瓷设置在米劳干涉装置上,所述图像处理终端通过压电陶瓷控制器控制设置在米劳干涉装置上的压电陶瓷发生位移运动,实现获取多波长的干涉条纹信息,所述样品台设置在米劳干涉装置下方。
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