[实用新型]用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置

摘要

本实用新型揭示一种用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其包括一光源模块、一检测模块及一控制模块。光源模块具有一发光区及一暗区，暗区环设于发光区的周围，发光区具有一照射在位于一检测区域内的基材上的检测光源，发光区界定有一光学中心轴。检测模块与光源模块彼此相对应设置，检测模块包括一用于撷取位于检测区域内的基材的影像信息的线性影像撷取单元，线性影像撷取单元具有一检测中心轴及投射于暗区的截取范围，检测中心轴非同轴于光学中心轴。控制模块电性连接于检测模块，以接收检测模块所撷取到的影像信息，以得到一位于基材上的瑕疵区域的一瑕疵信息。

主权项

一种用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其特征在于，其包括：一光源模块，所述光源模块具有一发光区及一暗区，所述暗区环设于所述发光区的周围，所述发光区具有一照射在位于一检测区域内的所述基材上的检测光源，其中所述发光区界定有一光学中心轴；一检测模块，所述检测模块与所述光源模块彼此相对应设置，所述检测模块包括一用于撷取位于所述检测区域内的所述基材的影像信息的线性影像撷取单元，其中所述线性影像撷取单元具有一检测中心轴及投射于所述暗区的截取范围，所述检测中心轴非同轴于所述光学中心轴；以及一控制模块，所述控制模块电性连接于所述检测模块，以接收所述检测模块所撷取到的影像信息，其中所述影像信息通过所述控制模块的运算，以得到一位于所述基材上的瑕疵区域的一瑕疵信息；其中，所述检测光源通过位于所述基材上的所述瑕疵区域，偏折投射在所述线性影像撷取单元的所述截取范围中。