[实用新型]轴键槽对称度测量装置有效
| 申请号： | 201420647046.8 | 申请日： | 2014-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN204214408U | 公开（公告）日： | 2015-03-18 |
| 发明（设计）人： | 尹红净;雷洪声 | 申请（专利权）人： | 天津市中重金属结构有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26;G01B11/02 |
| 代理公司： | 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 | 代理人： | 韩敏 |
| 地址： | 300401*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种轴键槽对称度测量装置，用于测量工件轴键槽的对称度，包括底座、测量机构，所述测量机构设于底座之上，且形如倒立的ш，包括一横杆与三个竖杆，所述竖杆包括两个侧边竖杆与一个中间竖杆，所述底座与横杆均设有供竖杆运动的滑道，所述横杆与竖杆均设有刻度，且侧边竖杆设有销轴，所述销轴用于键槽定位，销轴与键槽的相对面设有激光器，所述中间竖杆沿竖直方向两侧各设有一测量尺，且两测量尺起始刻度相反，两测量尺之间通过一透明膜相连，透明膜一端设有激光器。利用激光线标记两键槽中心线及垂直线，然后利用两个起始点相反的测量尺结合激光线测量键槽的对称度。 | ||
| 搜索关键词： | 键槽 对称 测量 装置 | ||
【主权项】：
轴键槽对称度测量装置，用于测量工件轴键槽的对称度，包括底座、测量机构，其特征在于：所述测量机构设于底座之上，且形如倒立的ш，包括一横杆与三个竖杆，所述竖杆包括两个侧边竖杆与一个中间竖杆，所述底座与横杆均设有供竖杆运动的滑道，所述横杆与竖杆均设有刻度，且侧边竖杆设有销轴，所述销轴用于键槽定位，销轴与键槽的相对面设有激光器，所述中间竖杆沿竖直方向两侧各设有一测量尺，且两测量尺起始刻度相反，两测量尺之间通过一透明膜相连，所述透明膜一端设有激光器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津市中重金属结构有限公司，未经天津市中重金属结构有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201420647046.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
