[实用新型]一种BGA封装测试插座有效
申请号: | 201420588900.8 | 申请日: | 2014-10-11 |
公开(公告)号: | CN204154755U | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
发明(设计)人: | 杨阳;杨硕;周津 | 申请(专利权)人: | 中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210 | 代理人: | 李济群 |
地址: | 300308 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种BGA封装测试插座,其特征在于该插座包括基板、基板内埋的可编程逻辑器件和引脚测试点,所述基板为集成PCB板,基板内部设有走线,走线与可编程逻辑器件的引脚相连,基板的上表面中央设有插槽,插槽中设有插槽点,所述插槽用于插放待测BGA芯片,所述插槽的槽间距与待测BGA芯片的球形引脚间距与规格一致,所述插槽点的行和列数均分别大于待测BGA芯片的球形引脚封装的行数和列数;所述基板的底面设有基板引脚,所述可编程逻辑器件与基板引脚和待测BGA芯片的球形引脚连接;所述引脚测试点由可编程逻辑器件引出,均匀分布在基板的上表面边缘。 | ||
搜索关键词: | 一种 bga 封装 测试 插座 | ||
【主权项】:
一种BGA封装测试插座,其特征在于该插座包括基板、基板内埋的可编程逻辑器件和引脚测试点,所述基板为集成PCB板,基板内部设有走线,走线与可编程逻辑器件的引脚相连,基板的上表面中央设有插槽,插槽中设有插槽点,所述插槽用于插放待测BGA芯片,所述插槽的槽间距与待测BGA芯片的球形引脚间距与规格一致,所述插槽点的行和列数均分别大于待测BGA芯片的球形引脚封装的行数和列数;所述基板的底面设有基板引脚,所述可编程逻辑器件与基板引脚和待测BGA芯片的球形引脚连接;所述引脚测试点由可编程逻辑器件引出,均匀分布在基板的上表面边缘。
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