[实用新型]内封测量光纤的超导带材及其制备装置有效
| 申请号： | 201420430961.1 | 申请日： | 2014-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN204178814U | 公开（公告）日： | 2015-02-25 |
| 发明（设计）人： | 洪智勇;王亚伟 | 申请（专利权）人： | 上海超导科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H01B12/00 | 分类号： | H01B12/00;G01K11/32;H01B13/00 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 郭国中 |
| 地址： | 201210 上海市虹口*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种内封测量光纤的超导带材，包括上保护层、下保护层、超导带层以及测量光纤，所述超导带层和测量光纤封装在上保护层和下保护层之间，所述测量光纤沿长度方向设置。所述测量光纤采用若干长光纤连续地封装在上保护层和下保护层之间，或，多根短光纤间断地封装在上保护层和下保护层之间。同时还提供了上述超导带材的制备装置，本实用新型可以对超导线圈内部所有位置的温度进行实时测量，无论局部失超的发生在何处，都可以及时发现；提高了超导线圈的紧密性和光滑性，这对那些对磁场均匀度要求很高的高性能磁体意义非凡，极大地提高设备性能。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 光纤 超导 及其 制备 装置 | ||
【主权项】：
一种内封测量光纤的超导带材，其特征在于，包括上保护层、下保护层、超导带层以及测量光纤，所述超导带层和测量光纤封装在上保护层和下保护层之间，所述测量光纤沿长度方向设置。
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