[实用新型]一种测量亚微米至纳米粒度段粒度分布的激光粒度仪有效

专利信息
申请号: 201420378380.8 申请日: 2014-07-09
公开(公告)号: CN204086079U 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 任中京;于代军 申请(专利权)人: 济南微纳颗粒仪器股份有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 山东众成仁和律师事务所 37229 代理人: 牟迅;何书红
地址: 250000 山东省济*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种测量亚微米至纳米粒度段粒度分布的激光粒度仪,包括激光光源装置、样品测试窗口3、散射信号接收装置4及与之电连接的信号处理系统5,激光光源装置包括第一激光器1和第二激光器2;散射信号接收装置是由14组光电探测器按照一定的规律排列,可以接收来自样品测试窗口中心固定角度的散射信号,该系统可以将来自样品测试窗口中心15°~130°的散射信号完整的接收并传输至计算机,计算机根据MIE散射理论可以计算出量程在0.05μm~1μm范围内所测样品的粒度分布图。
搜索关键词: 一种 测量 微米 纳米 粒度 分布 激光
【主权项】:
一种测量亚微米至纳米粒度段粒度分布的激光粒度仪,包括激光光源装置、样品测试窗口(3)、散射信号接收装置(4)及与之电连接的信号处理系统(5),所述激光光源装置的出射光束为平行光束,其特征在于,所述激光光源装置包括第一激光器(1)和第二激光器(2);所述样品测试窗口(3)包括,一位于其中心区域的截面呈矩形的棱体空腔(20),至少三个透光面,至少两个涂黑面;所述透光面与涂黑面封闭成一截面呈多变形的棱体;所述空腔(20)的棱边与样品测试窗口(3)的棱边平行;所述至少三个透光面包括第一透光面(11)、第二透光面(12)、第三透光面(13),所述至少两个涂黑面包括第一涂黑面(14)、第二涂黑面(15),所述第一激光器(1)和第二激光器(2)的出射光束分别经第二透光面(12)、第三透光面(13)垂直入射,并且分别透过第三透光面(13)后被所述散射信号接收装置(4)接收。
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