[实用新型]一种测量亚微米至纳米粒度段粒度分布的激光粒度仪

说明书

技术领域

本实用新型是涉及MIE散射原理测量颗粒粒度分布的装置，具体是一种专门用于测量亚微米至纳米粒度段颗粒粒度分布的激光粒度仪。

背景技术

基于MIE散射原理的激光粒度仪，其主要结构一般是由激光光源（一般为He-Ne气体激光器）、扩束镜、空间滤波器、傅里叶变换镜头、样品测试窗口、光电阵列探测器以及辅助光电探测器组成，这种结构的光路在单独测试前侧向至后向散射信号的时候，会出现信号探测盲区导致小颗粒的散射信号始终无法连续测量，从而使得在亚微米至纳米粒度段区间的粒度分布数据存在精度及准确度偏低的问题，为了解决该问题，特设计一种能够连续探测前侧向以及后向散射信号的样品测试窗口，该窗口实现了自前向15°至后向130°的散射信号可以连续无探测盲区，解决了亚微米至纳米粒度段区间的粒度分布数据能够被高准确度测量的问题。

发明内容

本实用新型的目的在于针对以上不足之处，提供一种装有特制的样品测试窗口的激光粒度仪，代替以往的由半导体或气体激光器、扩束镜、空间滤波器组成光源系统的激光粒度仪，它克服了以往的光路在单独测试前侧向至后向散射信号的时候，会出现信号探测盲区导致小颗粒的散射信号始终无法连续测量，从而使得在亚微米至纳米粒度段区间的粒度分布数据存在精度及准确度偏低的问题。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种测量亚微米至纳米粒度段粒度分布的激光粒度仪，包括激光光源装置、样品测试窗口3、散射信号接收装置4及与之电连接的信号处理系统5，所述激光光源装置的出射光束为平行光束，其特征在于，所述激光光源装置包括第一激光器1和第二激光器2；所述样品测试窗口3包括，一位于其中心区域的截面呈矩形的棱体空腔20，至少三个透光面，至少两个涂黑面；所述透光面与涂黑面封闭成一截面呈多变形的棱体；所述空腔20的棱边与样品测试窗口3的棱边平行；所述至少三个透光面包括第一透光面11、第二透光面12、第三透光面13，所述至少两个涂黑面包括第一涂黑面14、第二涂黑面15，所述第一激光器1和第二激光器2的出射光束分别经第二透光面12、第三透光面13垂直入射，并且分别透过第三透光面13后被所述散射信号接收装置4接收。

上述的激光粒度仪，其特征在于，所述第一激光器1和第二激光器2的出射光束在样品测试窗口3的空腔20中心区相交，且其相交的锐角夹角为45°。

上述的激光粒度仪，其特征在于，所述第一透光面11与第二透光面12之间的夹角α大于等于119°且小于等于121°，所述第二透光面12与第三透光面13之间的夹角β大于等于74°且小于等于75°。

上述的激光粒度仪，其特征在于，所述第一透光面11与第二透光面12之间的夹角α大于等于119°且小于等于121°，所述第二透光面12与第三透光面13之间的夹角β大于等于74°且小于等于75°。

上述的激光粒度仪，其特征在于，所述夹角α为120°，所述夹角β为75°。

上述的激光粒度仪，其特征在于，所述夹角α为120°，所述夹角β为75°。

上述的激光粒度仪，其特征在于，所述散射信号接收装置4包括多个光电探测器单元6。

上述的激光粒度仪，其特征在于，所述光电探测器单元6为14个，呈线状分布；所述14个光电探测器单元6接收来自第一激光器1在样品测试窗口3中心的散射信号，其中下部的5个光电探测器单元6接收来自第二激光器2在样品测试窗口3中心的散射信号。

上述的激光粒度仪，其特征在于，接收来自第一激光器1在样品测试窗口3中心的散射信号时，所述14个光电探测器单元6自下而上分别置于与散射信号角度为（15.43°-16.96°）（17.19°-18.86°）（19.18°-21.00°）（21.46°-23.44°）（24.08°-26.27°）（27.12°-29.58°）（30.64°-33.45°）（34.72°-37.95°）（39.48°-43.21°）（44.95°-49.22°）（51.28°-56.10°）（58.77°-64.14°）（67.88°-73.74°）（79.68°-85.63°）的位置；接收来自第二激光器2在样品测试窗口3中心的散射信号时，所述5个光电探测器单元6自下而上分别置于与散射信号角度为（89.95°-94.22°）（96.28°-101.10°）（103.77°-109.14°）（112.88°-118.74°）（124.68°-130.63°）的位置。

上述的激光粒度仪，其特征在于，所述散射信号接收装置4为平行线阵列光电探测器。