[实用新型]一种基于沟槽介质隔离的双极集成电路芯片有效
申请号: | 201420328719.3 | 申请日: | 2014-06-19 |
公开(公告)号: | CN203932062U | 公开(公告)日: | 2014-11-05 |
发明(设计)人: | 鄢细根;杨振;张晓新;朱国夫;余庆;廖洪志;赵铝虎;潘国刚;黄少南 | 申请(专利权)人: | 华越微电子有限公司 |
主分类号: | H01L27/082 | 分类号: | H01L27/082;H01L29/06;H01L21/8222 |
代理公司: | 绍兴市越兴专利事务所 33220 | 代理人: | 蒋卫东 |
地址: | 312000 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型公开一种基于沟槽介质隔离的双极集成电路芯片,属于集成电路设计/制造领域,包括硅衬底,以及依次生长在硅衬底上的埋层、外延层和绝缘层,其中,所述外延层上设有基区、上隔离区、下隔离区和磷桥区,基区的外侧环绕设有基区沟槽,上隔离区的内外两侧均环绕设有上隔离沟槽,上述基区沟槽和上隔离沟槽为氧化层/多晶硅/氧化层填充结构的沟槽,所述沟槽槽深2-4微米,槽宽1.8-2.5微米。上述基于沟槽介质隔离的双极集成电路芯片,通过在上隔离区的内外两侧,以及基区的外侧设置环形沟槽,最大限度降低设计尺寸,同时提高BVCBO的最大耐压,实现在最小的间距内电极之间的电性能最大化。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 沟槽 介质隔离 集成电路 芯片 | ||
【主权项】:
一种基于沟槽介质隔离的双极集成电路芯片,其特征在于:包括硅衬底,以及依次生长在硅衬底上的埋层、外延层和绝缘层,其中,所述外延层上设有基区、上隔离区、下隔离区和磷桥区,基区的外侧环绕设有基区沟槽,上隔离区的内外两侧均环绕设有上隔离沟槽,上述基区沟槽和上隔离沟槽为氧化层/多晶硅/氧化层填充结构的沟槽,所述沟槽槽深2‑4微米,槽宽1.8‑2.5微米。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的