[实用新型]一种电磁铁动态位移特性测试装置有效
申请号: | 201420288801.8 | 申请日: | 2014-05-30 |
公开(公告)号: | CN203837663U | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | 蔡景品;李勇;陈吉鹏;蔡一休;陈凯文;张晓良 | 申请(专利权)人: | 温州大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 杭州新源专利事务所(普通合伙) 33234 | 代理人: | 李大刚 |
地址: | 325035 浙江省温州市瓯*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种电磁铁动态位移特性测试装置,构成包括被测电磁铁(1)、夹具(2)、升降台(3)、激光位移传感器(4)、调节板(5)、旋转台(6)、X轴平移台(7)、Y轴平移台(8)、光学平板(9),所述的被测电磁铁(1)依次通过夹具(2)、升降台(3)固定在光学平板(9)上;所述的激光位移传感器(4)依次通过调节板(5)、旋转台(6)、X轴平移台(7)、Y轴平移台(8)固定在光学平板(9)上。本实用新型利用激光位移传感器检测其信号,并与被测电磁铁保持相应的位置关系,具有非接触、响应速度快、精度高的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 电磁铁 动态 位移 特性 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种电磁铁动态位移特性测试装置,其特征在于:包括被测电磁铁(1)、夹具(2)、升降台(3)、激光位移传感器(4)、调节板(5)、旋转台(6)、X轴平移台(7)、Y轴平移台(8)、光学平板(9),所述的被测电磁铁(1)依次通过夹具(2)、升降台(3)固定在光学平板(9)上;所述的激光位移传感器(4)依次通过调节板(5)、旋转台(6)、X轴平移台(7)、Y轴平移台(8)固定在光学平板(9)上。
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