[实用新型]光谱测量装置有效
| 申请号： | 201420139316.4 | 申请日： | 2014-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN203772415U | 公开（公告）日： | 2014-08-13 |
| 发明（设计）人： | 杨涛;许超;宋春元;何浩培;黄维;李兴鳌;周馨慧;沈骁;仪明东;李咏华 | 申请（专利权）人： | 南京邮电大学 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/02 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210046 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱测量装置，包括沿光入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，其特征在于，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有一层金属粒子膜，所述金属粒子膜包括一组纳米至微纳米尺度的大小不等的金属粒子，所述金属粒子在金属粒子膜中呈不均匀分布，且金属粒子之间形成有一系列可容光线通过的大小不等的孔隙。相比现有技术，本实用新型具有结构简单、对振动不敏感、测量精度高、制作成本低等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种光谱测量装置，包括沿光入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，其特征在于，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有一层金属粒子膜，所述金属粒子膜包括一组纳米至微纳米尺度的大小不等的金属粒子，所述金属粒子在金属粒子膜中呈不均匀分布，且金属粒子之间形成有一系列可容光线通过的大小不等的孔隙。
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