[实用新型]一种RoHS专用X荧光分析仪有效

专利信息
申请号: 201420132934.6 申请日: 2014-03-21
公开(公告)号: CN203929682U 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 乔文韬;苏建平;周偃 申请(专利权)人: 上海精谱科技有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人: 吕伴
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及一种RoHS专用X荧光分析仪,包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及样品移动测试平台、内置高清晰度摄像头,信号探测装置中设置有与信号处理装置连接的探测器,信号处理装置与计算机连接,激发光源装置与计算机控制连接,激发光源装置中设置有X射线发生器,探测器位于X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上,X射线发生器前设置有滤光片选择装置和准直器,探测器为SDD电制冷探测器。本实用新型可对各类样品中的RoHS指令中有害元素(Pb,Cd,Hg,Br,Cr)进行精准测试及无卤测试。
搜索关键词: 一种 rohs 专用 荧光 分析
【主权项】:
一种RoHS专用X荧光分析仪,其特征在于:所述RoHS专用X荧光分析仪包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、滤光片准直器控制系统、样品移动测试平台、计算机、摄像头和数码控制器,计算机上连接有输出装置,所述信号探测装置中设置有与所述信号处理装置连接的SDD电制冷探测器,所述信号处理装置与所述计算机连接,所述激发光源装置与所述计算机连接,所述激发光源装置中设置有X射线发生器和高压发生器,所述SDD电制冷探测器位于所述X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上,所述X射线发生器前设置有滤光片准直器控制系统,所述滤光片准直器控制系统包括滤光片和准直器,所述样品移动测试平台上连接一电机驱动装置,所述计算机上连接有数码控制器,所述摄像头设置在样品移动测试平台的底部。 
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