[实用新型]一种RoHS专用X荧光分析仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种分析仪器，具体涉及一种能提高分析元素的灵敏度和精度且通用性强的RoHS专用X荧光分析仪。

背景技术

目前，所使用的RoHS专用X荧光分析仪，它包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及样品测量平台；其中，激发光源装置和信号处理装置分别连接的计算机，该激发光源安装在靠近测样装置的位置，信号探测装置连接信号处理装置，样品测量平台是用于存放被测样品。该RoHS专用X荧光分析仪由于采用SI-PIN探测器，虽然该探测器比传统的Si(Li)探测器性能有了较大的提高，而且不再采用液氮冷却方式，使用上较方便，但该探测器的缺点是探测效率低、计数率小、分辨率比较差，因此测量RoHS中的有害元素精度比较差，再者，目前的样品测量平台的托架尺寸单一，不能根据需要测试样品的尺寸而改变测试平台的测试区域范围。该仪器一般只用于RoHS有害元素检测，不能用于其它测试，用途单一。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题，本实用新型的主要目的在于提供一种能提高分析元素的灵敏度和精度且通用性强的RoHS专用X荧光分析仪。

本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：一种RoHS专用X荧光分析仪，所述RoHS专用X荧光分析仪包括激发光源装置、信号探测装置、 信号处理装置、滤光片准直器控制系统、样品移动测试平台、计算机、摄像头和数码控制器，计算机上连接有输出装置，所述信号探测装置中设置有与所述信号处理装置连接的SDD电制冷探测器，所述信号处理装置与所述计算机连接，所述激发光源装置与所述计算机连接，所述激发光源装置中设置有X射线发生器和高压发生器，所述SDD电制冷探测器位于所述X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，所述X射线发生器前设置有滤光片准直器控制系统，所述滤光片准直器控制系统包括滤光片和准直器，所述样品移动测试平台上连接一电机驱动装置，所述计算机上连接有数码控制器，所述摄像头设置在样品移动测试平台的底部。

在本实用新型的一个优选实施例子中，所述样品移动测试平台包括样品测试托板、可更换的样品托架和样品压环，所述样品测试托板上设置有一带孔的容置槽，所述样品托架设置在所述容置槽内，所述样品托架上设置有一供激发光源装置中的激发射线穿过的测试孔，所述测试孔与所述容置槽的孔相对应，所述样品压环将一张迈拉膜压紧在所述样品托架上。

在本实用新型的一个优选实施例子中，所述迈拉膜的厚度范围为4-8μm。

在本实用新型的一个优选实施例子中，所述样品移动测试平台外围为样品室。

在本实用新型的一个优选实施例子中，所述信号处理装置包括与所述探测器连接的放大器以及与所述放大器连接的模数转换器。

在本实用新型的一个优选实施例子中，所述SDD电制冷探测器上设置有USB接口、RS232串口、以太网通信接口。

在本实用新型的一个优选实施例子中，在所述信号处理装置还设有与模数转换器连接而获取多道数据的单片机。

在本实用新型的一个优选实施例子中，所述计算机设有USB接口、RS232串 口、以太网通信接口，所述单片机通过USB接口把获取的多道数据传输给计算机。

在本实用新型的一个优选实施例子中，所述输出设备包括显示器和打印机。

本实用新型的积极进步效果在于：本实用新型提供的RoHS专用X荧光分析仪具有以下优点：本实用新型探测器采用SUPER-SDD电制冷探测器，其最低分辨率达到125eV，计数效率提高500％，该SUPER-SDD电制冷探测器对硫、氯等轻元素的探测效率比SI-PIN探测器提高了5倍，使一般样品在10-100秒内，可以得到满意的结果，大大提高了分析元素的灵敏度和检出限。本实用新型具有分析速度快、使用方便、精度高、成本低、故障率低、测量时间短的优点，可分析元素周期表中由硫(S)到铀(U)之间的全部元素，对RoHS指令中有害元素(Pb，Cd，Hg，Br，Cr)进行精准测试及无卤测试，完全达到了预期的目的，而且可检测各种类型的样品中如金属合金、电子元件、塑料玩具、土壤、食品等样品，样品形态可以是块状、线状、碎屑状、粉末状、液体等，无需进行专门制样，可以直接测量。另外，样品移动测试平台中间为可变尺寸样品测试托架，可以根据需要测试的样品的尺寸而改变测试平台的测试区域范围，增加本实用新型的通用性。

附图说明

图1为本实用新型的原理框图。

图2为本实用新型中样品移动测试平台的结构示意图之一。