[实用新型]一种用于超声波检测的二阶试块

摘要

本实用新型涉及一种超声检测用试块，具体的涉及一种用于超声波检测的二阶试块，其包括试块体、设置于试块体左侧的圆弧状阶梯面、设置于试块体上的阶梯孔以及设置于试块体右侧的弧形通孔；所述圆弧状阶梯面为二阶阶梯面，其外侧圆弧面的半径与试块体的宽边长度相同，其内侧圆弧面的半径为试块体的宽边长度的50%~80%；所述阶梯孔为等高阶梯孔，其中心线到试块体左侧的距离为试块体长度的30~50%；所述弧形通孔的曲率圆的圆心位于所述试块体的顶部，其曲率圆半径与试块体的高度相同。本实用新型的各反射体的设置有利于减少误差，提高分辨力，简化试块设置并适用于各种斜探头测定。

主权项

一种用于超声波检测的二阶试块，其特征在于其包括试块体（1）、设置于试块体（1）左侧的圆弧状阶梯面（2）、设置于试块体（1）上的阶梯孔（3）以及设置于试块体（1）右侧的弧形通孔（4）；所述圆弧状阶梯面（2）为二阶阶梯面，其外侧圆弧面（2‑1）的半径与试块体（1）的宽边长度相同，其内侧圆弧面（2‑2）的半径为试块体（1）的宽边长度的50%~80%；所述阶梯孔（3）为等高阶梯孔，其中心线到试块体（1）左侧的距离为试块体（1）长度的30~50%；所述弧形通孔（4）的曲率圆的圆心位于所述试块体（1）的顶部，其曲率圆半径与试块体（1）的高度相同。