[实用新型]一种用于超声波检测的二阶试块

权利要求书

1.一种用于超声波检测的二阶试块，其特征在于其包括试块体（1）、设置于试块体（1）左侧的圆弧状阶梯面（2）、设置于试块体（1）上的阶梯孔（3）以及设置于试块体（1）右侧的弧形通孔（4）；

所述圆弧状阶梯面（2）为二阶阶梯面，其外侧圆弧面（2-1）的半径与试块体（1）的宽边长度相同，其内侧圆弧面（2-2）的半径为试块体（1）的宽边长度的50%~80%；

所述阶梯孔（3）为等高阶梯孔，其中心线到试块体（1）左侧的距离为试块体（1）长度的30~50%；

所述弧形通孔（4）的曲率圆的圆心位于所述试块体（1）的顶部，其曲率圆半径与试块体（1）的高度相同。

2.根据权利要求1所述的用于超声波检测的二阶试块，其特征在于所述试块体（1）的长边长度是宽边长度的1.5~3倍，高度是宽边长度的30%~50%，所述试块体（1）的宽边长度为100~150mm。

3.根据权利要求2所述的用于超声波检测的二阶试块，其特征在于所述阶梯孔（3）的内孔半径为2~5mm，外孔半径为5~10mm。

4.根据权利要求3所述的用于超声波检测的二阶试块，其特征在于所述弧形通孔（4）的曲率圆的圆心到试块体（1）右侧的距离为试块体（1）长度的10~30%。

5.根据权利要求4所述的用于超声波检测的二阶试块，其特征在于所述弧形通孔（4）的横截面为圆形，横截面的半径为1~3mm。