[实用新型]一种用于超声波检测的二阶试块

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种超声检测用试块，具体的涉及一种超声波检测的二阶试块。

背景技术

斜探头超声波探伤仪斜探头进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。目前较常使用的斜探头用试块有CSK-IA、IIW等，但是随着数字探伤仪等新型仪器的广泛应用，单一的标准试块已经无法满足检测的需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供了一种新型的特别适合于各种斜探头使用的超声波检测用二阶试块。

为了到达上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：

本实用新型所述的二阶试块包括试块体、设置于试块体左侧的圆弧状阶梯面、设置于试块体上的阶梯孔以及设置于试块体右侧的弧形通孔；所述圆弧状阶梯面为二阶阶梯面，其外侧圆弧面的半径与试块体的宽边长度相同，其内侧圆弧面的半径为试块体的宽边长度的50%~80%；所述阶梯孔为等高阶梯孔，其中心线到试块体左侧的距离为试块体长度的30~50%；所述弧形通孔的曲率圆的圆心位于所述试块体的顶部，其曲率圆半径与试块体的高度相同。

进一步的，本实用新型所述试块体的长边长度是宽边长度的1.5~3倍，高度是宽边长度的30%~50%，所述试块体的宽边长度为100~150mm。

进一步的，本实用新型所述阶梯孔的内孔半径为2~5mm，外孔半径为5~10mm。

进一步的，本实用新型所述弧形通孔的曲率圆的圆心到试块体右侧的距离为试块体长度的10~30%。

进一步的，本实用新型所述弧形通孔4的横截面为圆形，横截面的半径为1~3mm。

本实用新型的技术效果包括：

本实用新型的圆弧状阶梯面为二阶阶梯面，用于两点标准校正，在调整横波扫描速度和检测范围是降低了难度并有助于减少误差。试块体上设置的二阶阶梯孔可用于斜探头的远、近声场测定，提高分辨力，简化试块设置。同时试块体内部设置的圆弧形通孔，无论什么角度的探头，探头声束的出射点均位于通孔曲率圆圆心，均可达到最高反射回波，检测效率提高，并适用于各种斜探头测定。

附图说明

图1为实施例1的二阶试块的主视结构示意图。

在附图中，1试块体、2圆弧状阶梯面、2-1外侧圆弧面、2-2内侧圆弧面、3阶梯孔、4弧形通孔、L试块体长边、D试块体宽边。

具体实施方式      

实施例1

如附图1所示，本实用新型所述的二阶试块包括试块体1、设置于试块体1左侧的圆弧状阶梯面2、设置于试块体1上的阶梯孔3以及设置于试块体1右侧的弧形通孔4。所述试块体1的长边L长度是宽边D长度的1.5~3倍，高度是宽边D长度的30%~50%，所述试块体1的宽边D长度为100~150mm。

本实用新型所述圆弧状阶梯面2为二阶阶梯面，其外侧圆弧面2-1的半径与试块体1的宽边D长度相同，其内侧圆弧面2-2的半径为试块体1的宽边D长度的50%~80%；其可用于两点标准校正，在调整横波扫描速度和检测范围是降低了难度并有助于减少误差。

本实用新型所述阶梯孔3为等高阶梯孔，其中心线到试块体1左侧的距离为试块体1长边L长度的30~50%；所述阶梯孔3的内孔半径为2~5mm，外孔半径为5~10mm；其可用于斜探头的远、近声场测定，提高分辨力，简化试块设置。

本实用新型所述弧形通孔4的曲率圆的圆心位于所述试块体1的顶部，其曲率圆半径与试块体1的高度相同；所述弧形通孔4的曲率圆的圆心到试块体1右侧的距离为试块体1长边L长度的10~30%；所述弧形通孔4的横截面为圆形，横截面的半径为1~3mm；无论什么角度的探头，探头声束的出射点均位于通孔曲率圆圆心，均可达到最高反射回波，检测效率提高，并适用于各种斜探头测定。