[实用新型]一种半导体器件检测装置有效
| 申请号： | 201420009043.1 | 申请日： | 2014-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN203705599U | 公开（公告）日： | 2014-07-09 |
| 发明（设计）人： | 范士海 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 李弘;陈安平 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体器件检测装置，包括测试板以及用于插接待测器件的半导体器件插座；所述半导体器件插座包括多个插孔；所述测试板包括与所述插孔一一对应的多个单刀三掷开关，以及与所述多个单刀三掷开关一一对应的高电平输入端口；所述每个单刀三掷开关的固定端分别一一对应连接所述半导体器件插座的插孔，所述每个单刀三掷开关的第一切换端与器件供电电源连接，所述每个单刀三掷开关的第三切换端接地；其中：所述每个单刀三掷开关的第二切换端悬空，且所述每个单刀三掷开关的固定端连接与其一一对应的所述高电平输入端口。本实用新型提出的半导体器件检测装置，大大简化了半导体器件测试过程，提高了检测效率及准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体器件 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体器件检测装置，其特征在于，包括测试板以及用于插接待测器件的半导体器件插座；所述半导体器件插座包括多个插孔；所述测试板包括与所述插孔一一对应的多个单刀三掷开关，以及与所述多个单刀三掷开关一一对应的高电平输入端口；所述每个单刀三掷开关的固定端分别一一对应连接所述半导体器件插座的每个插孔，所述每个单刀三掷开关的第一切换端与器件供电电源连接，所述每个单刀三掷开关的第三切换端接地；其中：所述每个单刀三掷开关的第二切换端悬空，且所述每个单刀三掷开关的固定端连接与其一一对应的所述高电平输入端口；或者，所述每个单刀三掷开关的第二切换端连接与其一一对应的所述高电平输入端口。
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