[实用新型]一种半导体器件检测装置

权利要求书

1.一种半导体器件检测装置，其特征在于，包括测试板以及用于插接待测器件的半导体器件插座；所述半导体器件插座包括多个插孔；所述测试板包括与所述插孔一一对应的多个单刀三掷开关，以及与所述多个单刀三掷开关一一对应的高电平输入端口；所述每个单刀三掷开关的固定端分别一一对应连接所述半导体器件插座的每个插孔，所述每个单刀三掷开关的第一切换端与器件供电电源连接，所述每个单刀三掷开关的第三切换端接地；其中：

所述每个单刀三掷开关的第二切换端悬空，且所述每个单刀三掷开关的固定端连接与其一一对应的所述高电平输入端口；

或者，所述每个单刀三掷开关的第二切换端连接与其一一对应的所述高电平输入端口。

2.根据权利要求1所述的半导体器件检测装置，其特征在于，所述测试板包括测试面板；所述测试面板上设置有供电电源插口、接地插口、所述高电平输入端口、所述每个单刀三掷开关的闸刀；所述每个单刀三掷开关的第一切换端通过所述供电电源插口与器件供电电源连接；所述每个单刀三掷开关的第三切换端通过所述接地插口接地；所述高电平输入端口用于选择性接入测试用高电平；所述每个单刀三掷开关的闸刀用于根据需要切换连接不同的切换端。

3.根据权利要求2所述的半导体器件检测装置，其特征在于，所述测试装置还包括测试适配器；所述用于插接待测器件的半导体器件插座设置于所述测试适配器上，所述测试适配器还包括第一接线插座；所述第一接线插座的每个插孔一一对应连接所述半导体器件插座的每个插孔；所述测试板上设置有第二接线插座，所述与半导体器件插座插孔一一对应的多个单刀三掷开关的固定端则一一对应连接到所述第二接线插座的每个插孔；所述第一接线插座与所述第二接线插座通过连接线电连接；使得所述每个单刀三掷开关的固定端分别一一对应连接所述半导体器件插座的插孔。

4.根据权利要求1至3任意一项所述的半导体器件检测装置，其特征在于，所述半导体器件插座包括28个插孔，所述测试板包括28个单刀三掷开关。