[发明专利]液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备有效
| 申请号： | 201410856637.0 | 申请日： | 2014-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN104503154B | 公开（公告）日： | 2018-03-09 |
| 发明（设计）人： | 胡德莹 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1341 | 分类号： | G02F1/1341 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司11372 | 代理人： | 朱绘,张文娟 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备，其中一种液晶滴下量获取方法包括从液晶盒中选取第一预设数量的膜柱，得到第一膜柱集，获取第一膜柱集中各个膜柱的原始高度，计算得到第一膜柱集的平均原始高度；从液晶盒中选取第二预设数量的主膜柱，得到第二主膜柱集，分别获取第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度、液晶盒厚度、第一材料层厚度和第二材料层厚度，计算得到液晶盒的膜柱压缩率；获取液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积，并结合第一膜柱集的平均原始高度和膜柱压缩率确定液晶盒所需要的液晶滴下量。该方法以单个液晶盒为分析对象，所得到的液晶滴下量也更为准确，解决了液晶面板生产过程中所产生的漏液晶和低温气泡等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 滴下 获取 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种液晶滴下量获取方法，其特征在于，所述方法包括：从液晶盒中选取第一预设数量的膜柱，得到第一膜柱集；获取所述第一膜柱集中各个膜柱的原始高度，并计算得到所述第一膜柱集的平均原始高度；从所述液晶盒中选取第二预设数量的主膜柱，得到第二主膜柱集；分别获取所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度、液晶盒厚度、第一材料层厚度和第二材料层厚度，计算得到所述液晶盒的膜柱压缩率；获取所述液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积，并结合所述第一膜柱集的平均原始高度和膜柱压缩率确定所述液晶盒所需要的液晶滴下量，其中，计算得到的膜柱压缩率还用于判断出所述液晶盒是否满足工艺要求。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司，未经深圳市华星光电技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410856637.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种显示面板及显示装置
- 下一篇：一种提高正负性混合液晶响应时间的方法和装置
