[发明专利]液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，具体地说，涉及液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备。

背景技术

近年来，随着TFT-LCD技术的发展，液晶显示器的尺寸也由中尺寸向大尺寸和小尺寸两个方向发展，大尺寸和小尺寸的液晶显示器也得到了广泛地使用。随着液晶显示器应用领域的拓展，人们对液晶显示器的响应时间和视角等关键技术指标也提出了越来越高的要求。

为了实现快速响应，最简单的方法是将盒厚做得更小。而为了实现宽视角，各厂商大多采用多畴垂直取向(MVA)和沿面取向(IPS)技术。然而，传统的真空灌注工艺限制了这些技术的应用。真空灌注工艺是利用毛细现象和内外压力差将液晶注入到盒内。盒厚越小，液晶流动阻力也就越大，液晶的注入也就越加困难。同时，液晶的注入难度还受PI膜的取向及其湿润性的制约，而MVA技术和IPS技术的膜取向不利于液晶的注入，将导致液晶的注入时间过长。

随着技术的发展，因能够有效克服真空灌装工艺所存在的问题，液晶滴下(One Drop Filling，简称为ODF)工艺逐渐替代真空灌装工艺而在液晶显示器的生产过程中得到广泛应用。ODF工艺具有工艺步骤少、CELL工艺简单、液晶材料利用率高以及能够实现生产自动化等特点。

在ODF工艺中，液晶滴下量是最为重要的管控参数之一。液晶滴下量的控制不当容易导致漏液晶(LC Leak)、低温气泡(Cold Bubble)以及液晶显示器亮度均匀性差等问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是为了克服现有技术中因液晶滴下量控制不当而导致漏液晶、低温气泡以及液晶显示器亮度均匀性差等问题。为解决上述问题，本发明的实施例首先提供了一种液晶滴下量获取方法，所述方法包括：

从液晶盒中选取第一预设数量的膜柱，得到第一膜柱集；

获取所述第一膜柱集中各个膜柱的原始高度，并计算得到所述第一膜柱集的平均原始高度；

从所述液晶盒中选取第二预设数量的主膜柱，得到第二主膜柱集；

分别获取所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度、液晶盒厚度、第一材料层厚度和第二材料层厚度，计算得到所述液晶盒的膜柱压缩率；

获取所述液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积，并结合所述第一膜柱集的平均原始高度和膜柱压缩率确定所述液晶盒所需要的液晶滴下量。

根据本发明的一个实施例，计算液晶盒的膜柱压缩率的步骤包括：

根据所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度，计算所述第二主膜柱集的平均原始高度；

根据所述液晶盒厚度、第一材料层厚度、第二材料层厚度和所述第二主膜柱集的平均原始高度，计算膜柱压缩量；

根据所述膜柱压缩量和第二主膜柱集的平均原始高度，计算所述膜柱压缩率。

根据本发明的一个实施例，根据如下表达式计算所述膜柱压缩率：

其中，a表示膜柱压缩率，d表示液晶盒厚度，d_c和d_a分别表示第一材料层厚度和第二材料层厚度，h表示第二主膜柱集的平均原始高度。

根据本发明的一个实施例，获取液晶盒中膜柱的总体积的步骤包括：

从所述液晶盒中选取预设位置处的主膜柱和辅膜柱，得到第一主膜柱和第一辅膜柱；

分别获取所述第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度、上表面半径和下表面半径，计算得到所述第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积；

分别获取所述液晶盒中主膜柱和辅膜柱的分布密度，结合所述液晶盒的底面积、第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积，分别确定液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积，进而得到所述液晶盒中膜柱的总体积。

根据本发明的一个实施例，

根据如下表达式计算所述第一主膜柱的体积：

且/或，根据如下表达式计算所述第一辅膜柱的体积：

其中，V₁和V₂分别表示第一主膜柱和第一辅膜柱的体积，h₁和h₂分别表示第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度，r_1u和r_1l分别表示第一主膜柱的上表面半径和下表面半径，r_2u和r_2l分别表示第一辅膜柱的上表面半径和下表面半径。

根据本发明的一个实施例，根据如下表达式计算所述主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积：