[发明专利]八水合二氯氧化锆产品中杂质含量测定的新方法在审
申请号: | 201410834378.1 | 申请日: | 2014-12-26 |
公开(公告)号: | CN104483306A | 公开(公告)日: | 2015-04-01 |
发明(设计)人: | 王德昌;刘良良;王淑占;时衍娟 | 申请(专利权)人: | 淄博广通化工有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/73 | 分类号: | G01N21/73;G01N1/38 |
代理公司: | 青岛发思特专利商标代理有限公司 37212 | 代理人: | 傅玉英 |
地址: | 255144 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明是一种八水合二氯氧化锆产品中杂质含量测定的新方法。属于用等离子体热激发的光学手段来测试分析材料。其特征在于:①.采用电感耦合等离子体原子发射光谱仪测定;②.在杂质标准溶液中锆基体溶液,使杂质标准溶液与待测样品溶液中锆基体浓度相近似。提供了一种操作步骤简便、检测结果准确、杂质元素检测限量更低的八水合二氯氧化锆产品中杂质含量测定的新方法。解决了现有技术中分光光度法存在的检测过程中需加入多种试剂用于掩蔽、转化离子价、显色等,过程复杂、操作繁琐、分析成本高、废液污染物多,测定结果精度低、重复性差的技术问题。适用于八水合二氯氧化锆、二氧化锆、碳酸锆产品中的金属杂质元素含量的测定。 | ||
搜索关键词: | 水合 氧化锆 产品 杂质 含量 测定 新方法 | ||
【主权项】:
一种八水合二氯氧化锆产品中杂质元素含量测定的新方法,其特征在于:①.采用电感耦合等离子体原子发射光谱仪测定;②.在杂质标准溶液中加入锆基体溶液,使杂质标准溶液与待测样品溶液中锆基体浓度相近似。
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