[发明专利]利用三棱锥微探针轨迹运动加工微结构的装置及方法有效
申请号: | 201410813219.3 | 申请日: | 2014-12-24 |
公开(公告)号: | CN104528632A | 公开(公告)日: | 2015-04-22 |
发明(设计)人: | 闫永达;薛勃;赵学森;胡振江 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 | 代理人: | 高媛 |
地址: | 150000 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 本发明公开了一种利用三棱锥微探针轨迹运动加工微结构的装置及方法。所述装置由支座、z向粗动定位台、三维压电位移台、三棱锥微探针、光学显微镜、二维调平台和二维工作台构成,其中:二维工作台固定在支座上,二维调平台固定在二维工作台,三棱锥微探针位于二维调平台上方并与三维压电位移台刚性连接,三维压电位移台与z向粗动定位台连接,光学显微镜固定在支座上,用于观测三棱锥微探针与金属样品间的距离。本发明通过采用几何非对称的三棱锥探针进行圆周公转轨迹运动,可以使得在每一次的旋转切削中刀具的前角不断变化,控制确定的进给方向进行加工,能够在金属样品表面加工得到毛刺较小的微结构。 | ||
搜索关键词: | 利用 三棱锥 探针 轨迹 运动 加工 微结构 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种利用三棱锥微探针轨迹运动加工微结构的装置,其特征在于所述装置由支座、z向粗动定位台、三维压电位移台、三棱锥微探针、光学显微镜、二维调平台和二维工作台构成,其中:二维工作台固定在支座上,二维调平台固定在二维工作台,三棱锥微探针位于二维调平台上方并与三维压电位移台刚性连接,三维压电位移台与z向粗动定位台连接,光学显微镜固定在支座上,用于观测三棱锥微探针与金属样品间的距离。
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