[发明专利]一种硅片表面纳米孔结构的制备方法在审

专利信息
申请号: 201410797689.5 申请日: 2014-12-18
公开(公告)号: CN104528631A 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 刘静;伊福廷;张天冲;王波;张新帅;孙钢杰 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100049 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种硅片表面纳米孔结构的制备方法,该方法包括:在硅片表面制备氯化铯岛结构;在带有氯化铯纳米岛结构的硅片表面蒸镀一层铝金属薄膜,放入去离子水中超声剥离,去掉氯化铯岛结构及其上的铝金属薄膜,得到多孔铝薄膜;以多孔铝薄膜为掩膜,在等离子体刻蚀机的刻蚀腔体内对硅片表面进行深度刻蚀;去除硅片表面的多孔铝薄膜,在硅片表面得到纳米孔结构。利用本发明制备出的硅片表面纳米孔结构,位置无序地分布在硅片表面,纳米孔结构大小不同,直径呈高斯分布,深度相近,侧壁不平滑。
搜索关键词: 一种 硅片 表面 纳米 结构 制备 方法
【主权项】:
一种硅片表面纳米孔结构的制备方法,其特征在于,该方法包括:步骤1:在硅片表面制备氯化铯岛结构;步骤2:在带有氯化铯纳米岛结构的硅片表面蒸镀一层铝金属薄膜,放入去离子水中超声剥离,去掉氯化铯岛结构及其上的铝金属薄膜,得到多孔铝薄膜;步骤3:以多孔铝薄膜为掩膜,在等离子体刻蚀机的刻蚀腔体内对硅片表面进行深度刻蚀;步骤4:去除硅片表面的多孔铝薄膜,在硅片表面得到纳米孔结构。
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