[发明专利]一种多模式SRAM单粒子测试方法及装置

摘要

本发明提供了一种多模式SRAM单粒子测试方法及装置，该装置包括以下结构：控制板，所述控制板包括电源模块、通信模块、缓存模块、主控模块、电流监控模块、电平转换模块和第一接口模块；测试板，所述测试板包括第二接口模块和测试夹具。根据本发明的另一个方面，还提供了一种多模式SRAM单粒子测试方法。本发明提出的装置可采用三种模式测试多片SRAM芯片，测试时，被测SRAM的电源与信号电压值可按需要在上位机中设置，方便测试。通过将测试系统的数据对比工作放在FPGA中进行，并且采用快速的错误位统计算法，可快速、实时的获取对比的错误数据。

主权项

一种多模式SRAM单粒子测试装置，该装置包括以下结构：控制板(100)，所述控制板包括电源模块(101)、通信模块(103)、缓存模块(102)、主控模块(104)、电流监控模块(105)、电平转换模块(106)和第一接口模块(107)；测试板(200)，所述测试板包括第二接口模块(201)和测试夹具(202)。