[发明专利]一种测量石墨烯与金属表面间距的方法有效

专利信息
申请号: 201410709646.7 申请日: 2014-11-27
公开(公告)号: CN105699702B 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 王锴成;贾越辉;王紫东;彭沛;任黎明;傅云义 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: G01Q60/24 分类号: G01Q60/24;G01N21/66
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于光谱仪和导电原子力显微镜的石墨烯与金属表面间距测量方法,该方法利用石墨烯‑金属结在特定电压下可以在大气环境中发光的现象,以光谱仪配合导电原子力显微镜,实现控制探针移动,测量相应电压,提取到ΔEF的平均值,根据ΔEF和d的对应关系,得到发光点处石墨烯与金属表面间距d,最后得到样品的间距分布图。
搜索关键词: 一种 测量 石墨 金属表面 间距 方法
【主权项】:
1.一种测量石墨烯与金属表面间距的方法,步骤包括:1)在金属表面合成单层石墨烯薄膜,所述金属为Al、Ag、Cu或Au;2)将样品放置在导电原子力显微镜的样品台上,探针接触在石墨烯表面,在石墨烯和金属间形成导电回路;3)在不超过预先设定的最大电流的情况下,在暗场环境下,光谱仪第一次捕捉到光信号时,记录此时的电压Vmin,继续升高电压至光谱仪探测波长最小值不再继续减小时,记录此时的电压4)记录相应的Vmin即ΔEF的范围,ΔEF是指石墨烯费米能级相对于狄拉克点的变化,提取到ΔEF的平均值,根据ΔEF和d的对应关系,得到发光点处石墨烯与金属表面间距d。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学,未经北京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410709646.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top