[发明专利]工业X射线底片曝光地理信息成像装置及方法在审
申请号: | 201410685382.6 | 申请日: | 2014-11-25 |
公开(公告)号: | CN104469680A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 康军;李克忠;王志强;刘明秦;宋永贵 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气集团公司;大庆石油管理局;大庆油田建设集团有限责任公司 |
主分类号: | H04W4/02 | 分类号: | H04W4/02 |
代理公司: | 大庆知文知识产权代理有限公司 23115 | 代理人: | 陈可鑫 |
地址: | 100007 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 工业X射线底片曝光地理信息成像装置及方法。能解决传统的曝光方法中底片上没有地理位置信息,容易给工程质量带来巨大隐患的问题。包括终端定位仪:用于发出位置信号;定位单元:对终端定位仪发出的位置信号进行经纬度定位;位置信息采集模块:用于采集定位单元的地理经纬度信息;曝光模块:用于将定位信息采集模块的地理经纬度信息及时间信息曝光在胶片上;显影模块:用于将胶片上的地理经纬度信息及时间信息显影在底片上。操作简单、使用方便,使得工作人员工作的地理位置信息具备了准确性、真实性和唯一性。 | ||
搜索关键词: | 工业 射线 底片 曝光 地理信息 成像 装置 方法 | ||
【主权项】:
工业X射线底片曝光地理信息成像方法,其特征在于包括以下步骤:步骤一:对终端定位仪进行定位;步骤二:采集定位后的终端定位仪的地理经纬度信息;步骤三:将地理经纬度信息及时间信息曝光在胶片(2)上;步骤四:经显影处理将胶片(2)上的地理经纬度信息及时间信息显影在底片上。
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