[发明专利]材料双向散射特性测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 201410659883.7 申请日: 2014-11-18
公开(公告)号: CN104458655A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 苏必达;邓蓉;范小礼;王景峰;华昊;彭月;王淑华 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47
代理公司: 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11466 代理人: 黄启行
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种材料双向散射特性测量装置及方法,所述材料双向散射特性测量装置包括:光源发射机构、光源轨道、光源移动机构、探测器、探测器轨道、探测器移动机构、轨道转向器、目标转盘、测量控制器和数据处理器。通过设置光源发射机构、光源轨道、光源移动机构、探测器、探测器轨道、探测器移动机构、轨道转向器、目标转盘、测量控制器和数据处理器,能够自动控制材料双向散射特性测量装置进行测量,降低了环境和人工对测量造成的影响,提高了测量的准确率。
搜索关键词: 材料 双向 散射 特性 测量 装置 方法
【主权项】:
一种材料双向散射特性测量装置,其特征在于,所述材料双向散射特性测量装置包括:光源发射机构、光源轨道、光源移动机构、探测器、探测器轨道、探测器移动机构、轨道转向器、目标转盘、测量控制器和数据处理器,所述光源轨道为圆弧形轨道,所述光源发射机构通过所述光源移动机构与所述光源轨道连接,所述探测器轨道为圆弧形轨道,所述探测器通过所述探测器移动机构与所述探测器轨道连接,所述轨道转向器分别与所述光源轨道和所述探测器轨道连接,所述目标转盘设置在所述轨道转向器顶部,所述测量控制器与所述光源发射机构、光源轨道、光源移动机构、探测器、探测器轨道和探测器移动机构连接,所述数据处理器与所述光源发射机构和所述探测器连接。
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