[发明专利]光掩模和使用了该光掩模的基板的制造方法有效
申请号: | 201410658927.4 | 申请日: | 2014-11-18 |
公开(公告)号: | CN104656369B | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 吉田光一郎;阿部明生 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社;东京应化工业株式会社 |
主分类号: | G03F1/32 | 分类号: | G03F1/32 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 丁香兰;庞东成 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供光掩模和使用了该光掩模的基板的制造方法,该光掩模能够在抑制设备投资的增加和生产效率的降低的同时,利用照相平版印刷形成具有线宽2μm~10μm的精细部分的线图案。一种光掩模,其用于形成具有线宽2μm~10μm的精细部分的线图案和围绕该线图案的周边区域,其中,该光掩模具有遮光部、对应于上述线图案的半透光部、以及围绕上述遮光部和上述半透光部围绕并对应于上述周边区域的透光部,上述半透光部的宽度比上述线图案的上述精细部分的宽度宽。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 线图案 半透光部 周边区域 遮光部 精细 基板 线宽 照相平版印刷 生产效率 抑制设备 宽度比 透光 制造 投资 | ||
【主权项】:
1.一种光掩模,其是为了形成线图案和围绕该线图案的周边区域而使用的光掩模,该线图案具有线宽为2μm~10μm的精细部分,上述光掩模的特征在于,该光掩模具有遮光部、与上述线图案对应的半透光部、以及围绕上述遮光部和上述半透光部并与上述周边区域对应的透光部,上述半透光部由具有透过率为30%~70%的范围的特性的膜构成,上述半透光部的宽度比上述线图案的上述精细部分的宽度宽,上述膜按照填埋上述遮光部之间的方式来配设。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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