[发明专利]电子组件之翻转与测试方法

摘要

本发明涉及一种电子组件之翻转与测试方法，适用于翻转与测试系统，本发明的特征在于将翻转/测试座本体以及翻转单元对若干电子组件的翻转步骤、检视步骤以及测试步骤一次性地依序完成，藉由翻转/测试座本体以及翻转单元，以提高电子组件的检测效率。

主权项

一种电子组件之翻转与测试方法，适用于翻转与测试系统，所述系统包括翻转单元以及翻转/测试座本体，所述翻转与测试方法包括下列步骤：(a)以第一移载装置将第一供料单元移动到所述翻转单元的取放区域，其中所述第一供料单元容纳若干第一电子组件；(b)将所述翻转单元的第一夹盘机构伸出，以由所述取放区域夹取所述第一供料单元；(c)所述第一夹盘机构由所述取放区域收回，以结合所述第一供料单元与第一承载单元；(d)以翻转装置带动所述翻转单元进行翻转动作，使所述第一供料单元内的所述若干第一电子组件落入所述第一承载单元内；(e)将所述第一夹盘机构伸出，以使所述第一供料单元与所述第一承载单元互相分离；(f)第二移载装置将已分离的所述第一承载单元以一预定方向移动到一检视位置，以计算所述第一承载单元内的所述若干第一电子组件之数量；(g)以连接所述第二移载装置的一第三移载装置将已分离的所述第一承载单元以所述预定方向由所述检视位置移动到一测试区域；(h)以所述翻转/测试座本体的一第四移载装置将已分离的所述第一承载单元在所述测试区域顶出，以进行所述若干第一电子组件的测试步骤；(i)利用所述第二移载装置以及所述第三移载装置将容纳测试完成的所述若干第一电子组件的所述第一承载单元与所述第一供料单元结合；以及(j)所述翻转装置带动所述翻转单元进行翻转动作，使所述第一承载单元内使测试完成的所述若干第一电子组件落入所述第一供料单元内。