[发明专利]一种集成芯片参考电压校准方法、装置及使用方法

摘要

本发明公开了一种集成芯片参考电压校准方法、装置及使用方法，通过在IC内部增设电子熔丝模块，并对电子熔丝模块进行读写操作以实现对IC的参考电压进行校准的方式，将现有的外部校准方案改成了内部校准方案，能够较大地降低IC设计、测试校准及生产制造的成本。本发明集成芯片参考电压校准方法包括：在IC验证测试阶段，根据电子熔断模块的工作需要，搭建好用于给IC内部校准参考电压的电路；S1、获取所述IC的外部校准参考电压；S2、将外部校准参考电压与理论标准值比较，得到调节值；S3、根据调节值及电子熔丝模块的档位校准关系得到电子熔丝模块内熔断位的档位组合值；S4、向电子熔丝模块写入档位组合值，完成对所述IC自身产生的参考电压的校准。

主权项

一种集成芯片参考电压校准装置，包括IC，其特征在于，还包括用于调节所述IC参考电压的电子熔丝模块；所述电子熔丝模块安装在所述IC内部；所述电子熔丝模块包括若干熔断位；所述若干熔断位的组合配置用于实现对所述IC参考电压的调节。