[发明专利]EUV光源和曝光装置、校准装置和校准方法有效

专利信息
申请号: 201410548939.1 申请日: 2014-10-16
公开(公告)号: CN105573060B 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 伍强;岳力挽 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;B05B13/02;H05G2/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 应战,骆苏华
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种EUV光源和曝光装置、校准装置和校准方法,所校准装置,包括位于辐射位置的发光体,发光体具有沿直线扫描方向排布的若干发光源,若干发光源适于向外依次发射光线;聚光镜载台,适于装载待校准的聚光镜,并驱动待校准的聚光镜旋转扫描,使得待校准的聚光镜的椭球型反射面收集发光源发射的光线,并将收集的光线反射汇聚于中心焦点;位于中心焦点处的阵列探测器,阵列探测器具有标准中心点,阵列探测器的标准中心点与中心焦点重合,所述阵列探测器适于检测聚光镜反射的光线,获得检测光斑,并判断检测光斑与标准中间点的位置差异。本发明校准装置能够对EUV光源的聚光镜的偏移量实现精确的校准,提高了EUV光源输出的极紫外光的功率。
搜索关键词: euv 光源 曝光 装置 校准 方法
【主权项】:
一种EUV光源,其特征在于,包括:液滴阵列,所述液滴阵列包括沿直线扫描方向排布的若干喷嘴,若干喷嘴适于依次向下方的辐射位置喷吐液滴;激光源,适于产生激光束,并使激光束沿直线扫描方向扫描,依次轰击到达辐射位置的液滴,液滴受到激光束轰击时形成等离子体,等离子体辐射极紫外光;聚光器,所述聚光器包括聚光镜和与聚光镜连接的第一驱动装置,第一驱动装置适于驱动所述聚光镜旋转扫描,使得聚光镜收集辐射的极紫外光,并将收集的极紫外光汇聚于中心焦点,所述聚光镜具有椭球型的反射面,所述聚光镜包括沿旋转扫描方向分布的第一侧边缘区域、中间区域和第二侧边缘区域,第一侧边缘区域和第二侧边缘区域分别位于中间区域的两侧,所述第一侧边缘区域具有向椭球型内侧偏移的第一偏移量,第二侧边缘区域具有向椭球型外侧偏移的第二偏移量。
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