[发明专利]一种用于测量结构变形的测量方法

摘要

本发明提供了一种用于测量结构变形的测量方法，其特征在于，包括以下步骤.确定结构待测量点未变形时点A₀的几何位置(X_A0，Y_A0，Z_A0)；在待测量点引出三条不共面的射线，在每条射线方向上布置一个位移测量计，安装位置分别标记为点B、C、D，坐标为：(X_B，Y_B，Z_B)，(X_C，Y_C，Z_C)，(X_D，Y_D，Z_D)；计算未变形时待测量点A₀距每个位移测量计安装点B、C、D的距离L₁,L₂,L₃等。

主权项

一种用于测量结构变形的测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一.确定结构待测量点未变形时点A₀的几何位置(X_A0，Y_A0，Z_A0)； 步骤二.在待测量点引出三条不共面的射线，在每条射线方向上布置一个位移测量计，安装位置分别标记为点B、C、D，坐标为： (X_B，Y_B，Z_B)，(X_C，Y_C，Z_C)，(X_D，Y_D，Z_D)； 步骤三.计算未变形时待测量点A₀距每个位移测量计安装点B、C、D的距离L₁,L₂,L₃； 步骤四.结构变形后读出每个位移测量计测得的位移值D₁,D₂,D₃； 步骤五.假设结构变形后位移测量点由A₀运动至点A₁，其几何位置变化为(X_A1，Y_A1，Z_A1),根据空间几何学，以上几何参数之间存在以下相关方程: 步骤六.解上面的方程组求出X_A1，Y_A1，Z_A1，从而确定了结构变形后测量点在初始坐标系下的空间位置，由此可计算得到变形后待测量点在初始坐标系下的三向位移X‑DIS、Y‑DIS、Z‑DIS，分别为: 步骤七.根据待测量点在初始坐标系下的三向位移X‑DIS、Y‑DIS、Z‑DIS，进行坐标系转换即可精确计算出待测量点任意方向的位移。