[发明专利]用于检测存储器件中可逆电阻转换元件的设置过程的装置

摘要

一种用于检测存储器件中可逆电阻转换元件的设置过程的装置，包括位线，其耦接到可逆电阻转换元件；斜坡变化装置用于使位线的电压斜坡上升直到位线的电压足够将可逆电阻转换元件的电阻转换到更低级别；以及检测装置其耦接到位线，用于当可逆电阻转换元件的电阻转换时进行检测，其中，斜坡变化装置包括运算放大器斜坡上升的电压被输入到运算放大器的第一输入端子，以及具有耦接到运算放大器的栅极的第一晶体管，运算放大器在栅极处提供电压，第一晶体管的源极处的电压跟随在栅极处的电压；以及检测装置包括比较器，比较器具有耦接到第一晶体管的漏极第一输入端子接收固定参考电压第二输入端子。

主权项

一种用于检测存储器件中可逆电阻转换元件的设置过程的装置，包括：位线(915,1117)，其耦接到所述可逆电阻转换元件(924，926，928；1120，1122，1124)；斜坡变化装置，用于使所述位线的电压斜坡上升直到所述位线的所述电压足够将所述可逆电阻转换元件的电阻转换到更低级别；以及检测装置(900，1112)，其耦接到所述位线，用于当所述可逆电阻转换元件的所述电阻转换时进行检测，其中，所述斜坡变化装置包括：运算放大器(1104)，斜坡上升的电压被输入到所述运算放大器的第一输入端子(1129)，以及具有耦接到所述运算放大器的栅极的第一晶体管(1114)，所述运算放大器在所述栅极处提供电压(VSFG)，所述第一晶体管的源极处的电压跟随在所述栅极处的电压；以及所述检测装置包括比较器(1112)，所述比较器(1112)具有耦接到所述第一晶体管的漏极的第一输入端子(1113)和接收固定参考电压(VREF)的第二输入端子(1135)。