[发明专利]一种利用非对称场流仪分离C60纳米晶体颗粒尺度分布的方法在审
| 申请号： | 201410509976.1 | 申请日： | 2014-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN104483245A | 公开（公告）日： | 2015-04-01 |
| 发明（设计）人： | 张波;何义亮;葛玲 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N1/28 |
| 代理公司： | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人： | 郑立 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用非对称场流仪分离C60纳米晶体颗粒尺度分布的方法，包括如下步骤：步骤一、制备C60纳米晶体颗粒；步骤二、将C60纳米晶体颗粒配置成C60溶液；步骤三、检测C60溶液，得到C60纳米晶体颗粒粒径数据；步骤四、处理粒径数据，得到C60纳米晶体颗粒粒径分布结果。本发明的有益效果是，提供一种利用非对称场流仪耦合多角度激光散射检测仪(AF4-MALS)分离C60纳米晶体颗粒尺度分布的新方法，此方法方便快捷，能够获得连续的测试数据，方便后续数据处理。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 对称 场流仪 分离 sub 60 纳米 晶体 颗粒 尺度 分布 方法 | ||
【主权项】：
一种利用非对称场流仪分离C60纳米晶体颗粒尺度分布的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一、制备C60纳米晶体颗粒；步骤二、将所述C60纳米晶体颗粒配置成C60溶液；步骤三、检测所述C60溶液，得到C60纳米晶体颗粒粒径数据；步骤四、处理所述粒径数据，得到C60纳米晶体颗粒粒径分布结果。
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