[发明专利]一种利用非对称场流仪分离C60纳米晶体颗粒尺度分布的方法

权利要求书

1.一种利用非对称场流仪分离C₆₀纳米晶体颗粒尺度分布的方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一、制备C₆₀纳米晶体颗粒；

步骤二、将所述C₆₀纳米晶体颗粒配置成C₆₀溶液；

步骤三、检测所述C₆₀溶液，得到C₆₀纳米晶体颗粒粒径数据；

步骤四、处理所述粒径数据，得到C₆₀纳米晶体颗粒粒径分布结果。

2.根据权利要求2所述的一种利用非对称场流仪分离C₆₀纳米晶体颗粒尺度分布的方法，其特征在于，步骤二中，配置所述C₆₀溶液的具体步骤是：

(1)将所述C₆₀纳米晶体颗粒与溶剂直接混合；

(2)在室温和光照条件下连续搅拌，然后静置；

(3)用滤膜过滤得到所述C₆₀溶液。

3.根据权利要求2所述的一种利用非对称场流仪分离C₆₀纳米晶体颗粒尺度分布的方法，其特征在于，步骤(1)所述溶剂选用超纯水、NaCl母液、腐殖酸母液、富里酸母液之中的任意一种。

4.根据权利要求3所述的一种利用非对称场流仪分离C₆₀纳米晶体颗粒尺度分布的方法，其特征在于，所述NaCl母液的浓度为1～100mM；所述腐殖酸母液的浓度为0.5～10mg/L；所述富里酸母液的浓度为0.5～10mg/L。

5.根据权利要求2所述的一种利用非对称场流仪分离C₆₀纳米晶体颗粒尺度分布的方法，其特征在于，步骤(2)使用磁力搅拌子连续搅拌，搅拌时间为两周，然后静置24h。

6.根据权利要求2所述的一种利用非对称场流仪分离C₆₀纳米晶体颗粒尺度分布的方法，其特征在于，步骤(3)所述滤膜选用0.45μm或0.7μm孔径的滤膜。

7.根据权利要求1所述的一种利用非对称场流仪分离C₆₀纳米晶体颗粒尺度分布的方法，其特征在于，用非对称场流仪耦合多角度激光散射检测仪进行检测。

8.根据权利要求7所述的一种利用非对称场流仪分离C₆₀纳米晶体颗粒尺度分布的方法，其特征在于，非对称场流仪具有扁平腔室，所述扁平腔室的厚度为350μm。

9.根据权利要求8所述的一种利用非对称场流仪分离C₆₀纳米晶体颗粒尺度分布的方法，其特征在于，所述扁平腔室下的滤膜为10k Da的聚醚砜树脂膜。

10.根据权利要求7所述的一种利用非对称场流仪分离C₆₀纳米晶体颗粒尺度分布的方法，其特征在于，非对称场流仪的主体流的流速为1ml/min，交叉流初始流速为0.3ml/min，进过40min线性减小到零，进样量为1ml，聚焦时间为2min。