[发明专利]一种光束偏振度测量装置和方法

摘要

本发明公开了一种光束偏振度测量装置和方法，该测量装置由光学元件基片，转台和两个光束强度探测器组成，光学元件位于转台上，待测光入射至光学元件基片上，通过转台调节光束入射角，测量光学元件在不同入射角时的反射和透射光强度，根据菲涅耳公式推算得到入射光束的偏振度。本发明具有测量方法和装置简单，成本低，并且测量精度高，应用范围广等优点。

主权项

一种光束偏振度测量装置，其特征在于，该测量装置包括光学元件(1)，角度控制器(2)，第一光强度探测器(3)，第二光强度探测器(4)和数据处理系统(5)；所述光学元件(1)安装在角度控制器(2)上，通过角度控制器(2)调节待测光束的入射角度，由第一光强度探测器(3)和第二光强度探测器(4)分别测量经光学元件(1)透射和反射的光束强度，分别用ET和ER表示；数据处理系统(5)对测量结果进行处理得到入射光偏振度信息；所述的光学元件(1)选择能够反射和透射待测光的光学基片，对待测光的吸收和散射损耗已知，光学基片是3mm厚，光学基片尺寸大于待测光入射至光学元件(1)上的光斑尺寸的三倍。